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動態(tài)拖尾時間測試FS-MPRT 是弗士達(dá)開發(fā)的針對顯示器運(yùn)動圖像拖尾時間測試的自動化檢測設(shè)備。檢測方式為動態(tài)追蹤C(jī)CD相機(jī)系統(tǒng)。軟件根據(jù)用戶設(shè)定的動態(tài)圖像運(yùn)動速...

弗士達(dá)通過不斷技術(shù)創(chuàng)新，研發(fā)出不同系列的成像亮度色度計(jì)。分別有DI系列成像色度計(jì)、DA系列成像亮度計(jì)(成像光度計(jì))。為不同的光學(xué)測量及實(shí)驗(yàn)研發(fā)，提供更合適的測量...

分光輻射亮度計(jì)LA-6000系列是一款具有超低亮度到超高亮度的量程，高速、高靈敏度的分光輻射計(jì)，有4個測量角度，可測量極小的發(fā)光面積。適用于各類顯示器（LCD ...

成像色度計(jì)/亮度計(jì)(成像亮度色彩分析儀)DI系列是弗士達(dá)開發(fā)的用于平板顯示器（FPD）自動光學(xué)檢測的儀器。采用制冷型圖像芯片來獲得高質(zhì)量的拍攝畫質(zhì)，同時集成了光...

近眼顯示（AR/VR）測量：成像亮度色度計(jì)+AR/VR鏡頭-是弗士達(dá)開發(fā)的用于AR/VR自動光學(xué)檢測的儀器。

成像色度計(jì)DI系列弗士達(dá)通過不斷技術(shù)創(chuàng)新，研發(fā)出不同系列的成像亮度色度計(jì)。分別有DI系列成像色度計(jì)、DA系列成像亮度計(jì)(成像光度計(jì))。為不同的光學(xué)測量及實(shí)驗(yàn)研發(fā)...

短期殘影測量儀DI-5000是弗士達(dá)開發(fā)的用于平板顯示器（FPD）自動光學(xué)檢測的儀器。采用制冷型圖像芯片來 獲得高質(zhì)量的拍攝畫質(zhì)，同時集成了光譜儀光路以提升亮度...

成像亮度色度計(jì)（成像亮度色彩分析儀）CF-2600L 是弗士達(dá)開發(fā)的一款內(nèi)置濾光片XYZ、分辨率高達(dá)2600萬像素的面式光學(xué)測量儀。該儀器可實(shí)現(xiàn)像素級測量分析，...

FS-GRT是弗士達(dá)公司依照VESA和IDMS標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)的一款測量顯示響應(yīng)速度/閃爍的光學(xué)儀器。其內(nèi)置的光電感應(yīng)探頭采用濱松光電倍增管模組，具備*高的靈敏度和響應(yīng)...

LA-506A 多視角光譜儀具備６個不同視角的光譜儀探頭和１個閃爍測量探頭，在無需機(jī)械運(yùn)動的情況下快速測量６個不同視角下的亮度，色度，色偏JNCD，以及閃爍特性...

便攜式光譜儀LA5000 系列是一款輕巧、高速、準(zhǔn)確的光譜儀，滿足研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境下快速、高精度、可重復(fù)性的測量要求。

色彩分析儀 LA -2000 系列應(yīng)用集成硅干涉濾光片技術(shù)，其 XYZ 傳感器匹配 CIE 人眼視覺函數(shù)曲線，同時具備超高的動態(tài)感光量程，可用于 0.005 ~...

光譜儀掃描式的OLED器件壽命測試方案。將分光輻射亮度計(jì)安裝于XYZ自動移動軸上，分別掃描每個器件發(fā)光點(diǎn)的亮度色度和光譜數(shù)據(jù)，得到器件在壽命衰減過程中的亮度、色...

CMS為CameraMonitorSystem縮寫，直譯為“攝像頭監(jiān)控系統(tǒng)"，汽車應(yīng)用上一般指電子外后視鏡系統(tǒng)，通常由外部攝像頭(camera)捕捉視野，通過電...

高低溫快速光學(xué)測量系統(tǒng) FS-EZC系列，配套Eldim EZcontrast快速視角分析儀，使用的自動化機(jī)臺，用于顯示器全視角特性分析和 3D光學(xué)性能分析，并...

硅光電式OLED器件高溫壽命測試系統(tǒng)夾具底部帶有加熱板，利用高溫加速OLED器件的老化，進(jìn)行設(shè)定的高溫條件下的器件壽命測試。

氛圍燈光色校準(zhǔn)系統(tǒng)是弗士達(dá)針對帶有IC控制的PCBA類氛圍燈所開發(fā)的校正驗(yàn)證測試系統(tǒng)

環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進(jìn)行控制。其溫度控制范圍、濕度控...

多片OLED器件IVL+視角測量主要應(yīng)用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)工廠，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。

硅光電式OLED器件常溫壽命測試系統(tǒng)可以測量OLED器件在恒壓，恒流等條件下的亮度衰減情況。