首頁>>北京卓立漢光儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>工業(yè)分析>>半導(dǎo)體光學(xué)參數(shù)檢測
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案 參考價(jià)：面議
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案，基于我司自主研發(fā)的激光自動(dòng)聚焦、自動(dòng)化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術(shù)，聯(lián)合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價(jià)：面議
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組，以自動(dòng)化顯微鏡模組為基礎(chǔ)，針對 SiC 等化合物半導(dǎo)體晶圓位錯(cuò)、層錯(cuò)等缺陷檢測需求。
半導(dǎo)體缺陷檢測：自動(dòng)化顯微成像模組 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體缺陷檢測：自動(dòng)化顯微成像模組，針對半導(dǎo)體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環(huán)節(jié)自動(dòng)化視覺檢測需求。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
15