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鍍金層厚度測量，應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無損測量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控、來料檢驗及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

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