首頁(yè) >> 公司動(dòng)態(tài) >> 報(bào)名中 | 光譜技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)（Light Online）
主辦方
中科院長(zhǎng)春光機(jī)所Light學(xué)術(shù)出版中心
布魯克（北京）科技有限公司
吉林省光學(xué)學(xué)會(huì)
承辦方
活動(dòng)形式
開(kāi)播時(shí)間
2021年6月21日20:00（周一晚8點(diǎn)）
中文
20:00-21:00
45分鐘報(bào)告+15分鐘答疑
動(dòng)量空間成像光譜技術(shù)：從光學(xué)分析到光學(xué)量測(cè)
21:00-22:00
45分鐘報(bào)告+15分鐘答疑
傅立葉紅外時(shí)間分辨光譜技術(shù)與光學(xué)元件表征
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報(bào)告人與報(bào)告內(nèi)容介紹
復(fù)旦大學(xué)教授石磊
石磊，復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系教授、博導(dǎo)、復(fù)旦大學(xué)仲英青年學(xué)者。2010年在復(fù)旦大學(xué)獲得博士學(xué)位，曾在西班牙馬德里材料科學(xué)研究所和芬蘭阿爾托大學(xué)進(jìn)行博士后研究。
主要研究方向包括光子晶體、微納光子學(xué)、多維度光譜測(cè)量和微納制程光學(xué)量測(cè)技術(shù)的開(kāi)發(fā)與應(yīng)用等。
現(xiàn)擔(dān)任上海微納制程智能檢測(cè)工程技術(shù)研究中心副主任。2014年獲得上海市科委浦江人才和上海市教委“東方學(xué)者”特聘教授稱(chēng)號(hào)，2015年獲得國(guó)家高層次海外引進(jìn)人才（青年）資助，2019年由于在動(dòng)量空間成像光譜設(shè)備的原理、技術(shù)和產(chǎn)業(yè)應(yīng)用等方面的貢獻(xiàn)，獲得上海市優(yōu)秀技術(shù)帶頭人稱(chēng)號(hào)。以第一或通訊/共同通訊作者發(fā)表包括Nature Photonics、Light：Science & Applications、Science Bulletin、Nature Comunications、Physical Review Letters和Advanced Materials在內(nèi)的高水平學(xué)術(shù)論文35篇。
微納光子學(xué)材料具有與作用波長(zhǎng)相比擬甚至更小尺度的結(jié)構(gòu)，能夠與光子相互作用，在動(dòng)量空間中形成特定的光子能量分布（也被稱(chēng)為角色散）。*的動(dòng)量空間特性賦予了微納光子學(xué)材料不同于傳統(tǒng)均勻材料的光學(xué)效應(yīng)和光輸運(yùn)特性。通過(guò)對(duì)動(dòng)量空間中的光子能帶、光子帶隙和等頻圖等進(jìn)行定量表征，可以得到本征光學(xué)態(tài)的電磁響應(yīng)、偏振特性、壽命、局域化和空間相干性等關(guān)鍵信息。因此，動(dòng)量空間光譜測(cè)量和分析是微納光子學(xué)研究中不可少的研究方法。
本報(bào)告將介紹復(fù)旦大學(xué)光子晶體課題組近年在角分辨光譜和動(dòng)量空間成像系統(tǒng)方面的研發(fā)以及產(chǎn)業(yè)化相關(guān)工作，包括：1，動(dòng)量空間光譜測(cè)量對(duì)微納光子材料性能表征和分析的重要意義；2，角分辨和動(dòng)量空間成像光譜系統(tǒng)在光子色散、模式壽命、空間相干性、偏振態(tài)和相位分布等方面的量測(cè)性能；3，典型的科學(xué)研究案例；以及4，角分辨光譜結(jié)合神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)解決光散射逆問(wèn)題和其在光學(xué)量測(cè)方面的應(yīng)用等。
4. 相關(guān)技術(shù)在光學(xué)逆問(wèn)題和微納制程光學(xué)量測(cè)方面的分析算法與應(yīng)用
布魯克光譜德國(guó)總部R&D應(yīng)用專(zhuān)家吳丹
報(bào)告人簡(jiǎn)介
吳丹，布魯克光譜德國(guó)總部R&D應(yīng)用專(zhuān)家。2008年在中科院物理所極端條件實(shí)驗(yàn)室獲得博士學(xué)位，2008-2012年在德國(guó)斯圖加特大學(xué)物理系任博士后，洪堡學(xué)者。主要研究方向包括高溫超導(dǎo)材料的紅外光譜性質(zhì)、有機(jī)導(dǎo)體/超導(dǎo)體各向異性紅外光譜性質(zhì)、時(shí)間分辨及紅外顯微表征、磁光光譜等。2012年加入布魯克光譜德國(guó)總部，擔(dān)任中國(guó)區(qū)技術(shù)*，現(xiàn)任亞太區(qū)R&D應(yīng)用經(jīng)理。
報(bào)告內(nèi)容簡(jiǎn)介
紅外光譜技術(shù)已經(jīng)被應(yīng)用于很多工業(yè)和科研領(lǐng)域，它因快速、靈敏、無(wú)損等特點(diǎn)備受使用者的青睞。除了常規(guī)的紅外定性和定量分析外，紅外光譜儀還可以結(jié)合各種特殊光學(xué)附件和先進(jìn)的干涉儀技術(shù)，在溫度、壓力、場(chǎng)效應(yīng)以及時(shí)間等多個(gè)維度上進(jìn)行深入的材料紅外特性分析。布魯克光譜出品的研究級(jí)傅立葉紅外光譜儀，擴(kuò)展性強(qiáng)。其干涉儀的步進(jìn)掃描技術(shù)，為各種光學(xué)元件（如光源、光敏材料、檢測(cè)器元件等）的深度表征提供了諸多可能性。希望通過(guò)本次公開(kāi)課，能夠讓您對(duì)傅立葉紅外光譜時(shí)間分辨技術(shù)有更加深入的認(rèn)識(shí)，對(duì)光學(xué)材料的紅外表征手段有更全面的了解，以此激發(fā)您更多的科研靈感。
報(bào)告大綱
5. 其他光學(xué)材料表征應(yīng)用
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