目錄:上海昊量光電設(shè)備有限公司>>光學(xué)部件>>雙折射測量系統(tǒng)>> 定量雙折射成像系統(tǒng)
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CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種*的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統(tǒng)方法繁瑣且耗時。Abrio技術(shù)通過自動化定量極化顯微鏡的過程,打開了雙折射成像世界的大門,允許你精確地計算出每一個像素在幾秒內(nèi)的延遲幅度和方向
可檢測樣品:
l 光學(xué)材料
l 玻璃
l 聚合物
l 硅片
l 薄膜
l 鋁
l 石墨
特征:
l 每像素定量延遲數(shù)據(jù)
l 操作簡便,交互軟件
l 快速圖像采集(3s每幅)
l 延遲靈敏度到0.02nm
ABRIO成像系統(tǒng)
可視化和測量透射物體、反射物體(如玻璃,水晶,塑料,光纖,鋁等)雙折射結(jié)構(gòu),幾秒內(nèi)實現(xiàn)所有像素點成像。該系統(tǒng)包含的外設(shè)顯微鏡綜合了*的液晶偏振光對比技術(shù),控制電路,成像算法和交互式軟件。
定量雙折射數(shù)據(jù)
空間分辨率,數(shù)據(jù)采集速率,測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統(tǒng)成為分析注塑件,制造中的聚合物纖維,細胞生物學(xué)中的微觀結(jié)構(gòu)和制藥工業(yè)中的化合物的應(yīng)力和應(yīng)變的理想工具。
自動的延遲量和方位角數(shù)據(jù)
系統(tǒng)將自動計算樣本圖像中每個像素的延遲和方位數(shù)據(jù)。 原始數(shù)據(jù)和計算數(shù)據(jù)都可以存儲用于記錄和審查。
背景更正
系統(tǒng)將使用算法自動計算背景信息,以獲得高靈敏度和準確度。
偏振方向無關(guān)
*的CRI的Abrio成像技術(shù),偏振圖像是獨立于偏振器或標本的方向。 這導(dǎo)致了亮度,細節(jié)和清晰度均勻的圖像。
快速圖像采集
CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內(nèi)生成處理后的圖像
無移動部件
不需要手動操作偏振片或樣品。 計算機控制的基于液晶的光學(xué)系統(tǒng)可以產(chǎn)生*的像素到像素圖像配準和精確的偏振控制。
全面的軟件分析工具
軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數(shù),
包含:
•線掃描
•偽彩色覆蓋
•單像素測量
•矢量疊加
•閾值
•面積計算
系統(tǒng)部件
基于液晶的偏振補償器
Abrio光學(xué)系統(tǒng)的核心是液晶(LC)組件,它可以改變光線的偏振態(tài),而不會使部件運動,產(chǎn)生噪聲,zui重要的是沒有圖像偏移。
綠色帶通濾光片
當(dāng)通過目鏡觀察時,546納米濾光片將使圖像呈現(xiàn)高對比度綠色,這對于LC偏振補償光學(xué)器件是*的。
圓偏振片
圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號。
光耦合器
在顯微鏡的相機端口和CCD相機之間放置0.45x或0.5x光耦合器。 這增加了入射CCD的光量,從而減少了圖像捕獲時間。
CCD相機,計算機和顯示器
這些組件和預(yù)安裝的PCI板卡允許您捕捉數(shù)字圖像。數(shù)字圖像可以進行處理,歸檔,導(dǎo)出或檢索,而不會損失質(zhì)量。