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詳細(xì)介紹
來(lái)自CRAIC的FLEX™是一款經(jīng)濟(jì)但功能齊全且配置靈活的儀器，采用Lightblades™分光光度計(jì)，結(jié)合了紫外-可見(jiàn)-近紅外光學(xué)系統(tǒng)，數(shù)字成像系統(tǒng)和軟件，采用模塊化設(shè)計(jì)，使FLEX™成為一種強(qiáng)大而耐用的科學(xué)儀器，可以對(duì)微米級(jí)的樣品點(diǎn)進(jìn)行無(wú)損的吸收、反射和熒光光譜測(cè)試。
憑借具有吸引力的價(jià)格，F(xiàn)LEX™顯微分光光度計(jì)利用測(cè)試技術(shù)，可以測(cè)量微觀樣品區(qū)域的紫外 - 可見(jiàn) - 近紅外范圍透射率、吸光度、反射率、發(fā)射光譜和熒光光譜。當(dāng)光譜正在被采集時(shí)，樣品可以與高分辨率彩色數(shù)字成像系統(tǒng)或目鏡同時(shí)成像，另外的特征還可以包括測(cè)量微觀樣品的折射率以及微量測(cè)定和薄膜厚度測(cè)量。
FLEX™顯微分光光度計(jì)的設(shè)計(jì)旨在以吸引力的價(jià)格提供優(yōu)質(zhì)的圖像和光譜。
應(yīng)用領(lǐng)域：
痕跡證據(jù)
法醫(yī)藥物化學(xué)
LED/ OLED彩色平板
半導(dǎo)體薄膜厚度
MEMS器件
表面等離子體共振
過(guò)程雜質(zhì)檢測(cè)
蛋白質(zhì)晶體
組合化學(xué)
FLEX™參數(shù)
| 光譜學(xué)類(lèi)型 | 紫外-可見(jiàn)-近紅外吸光度，反射率，熒光，光致發(fā)光，偏振 |
| 顯微拉曼 | 可選Apollo II™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微動(dòng)力 | 可選 |
| 5D Mapping | 可選 |
| 微比色法 | 可選 |
| 光譜范圍 | 240-900nm |
| 成像范圍 | 高分辨率彩色 |
| 熒光激發(fā) | 365-546nm |
| 熒光發(fā)射 | 400-900nm |
| 探測(cè)器類(lèi)型 | Lightblades™ |
| 探測(cè)器 | CCD和inGaAs陣列 |
| 探測(cè)器冷卻 | TE制冷 |
| 光譜分辨率 | 1-15nm |
| 采樣面積 | 1-10000µm² |