SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種良好的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，SXJS-IV全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測試時(shí)間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度）等特點(diǎn)。

SXJS-IV抗干擾介損自動測試儀主要技術(shù)指標(biāo)

1、環(huán)境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應(yīng)避免長時(shí)日照）

2、相對濕度：30% ～ 70%

3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz

4、外形尺寸：長×寬×高   500mm×300mm×400mm

5、重量：    約18Kg

6、全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀輸出功率：0.6KVA

7、顯示分辯率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

8、測量范圍及輸出電壓選擇：

SXJS-IV

抗干擾介損自動測試儀（tgδ）：±0.00～±999%

試品電容容量（Cx）和加載電壓：

2.5KV檔:≤300nF（300000pF）            3KV檔:≤200nF（200000pF）

5KV檔:≤76nF（76000pF）                7.5KV檔:≤34nF（34000pF）

10KV檔:≤20nF（20000pF）

9、基本測量誤差：

介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA）

介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA）

電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF

SXJS-IV體積小、重量輕是我公司的第二代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。

產(chǎn)品別名：高壓介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗測量儀、變頻介質(zhì)損耗測試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測試儀、介損測試儀、介質(zhì)損耗檢測儀、異頻介質(zhì)損耗測試儀、全自動介質(zhì)損耗測試儀。

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