產(chǎn)地類別 |
國(guó)產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
文體,電子,交通,航天,汽車 |
數(shù)顯磁性測(cè)厚儀參數(shù):測(cè)量范圍: O-200µm。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。測(cè)量精度:±( 0.7µm 3%H )*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。
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相關(guān)設(shè)備板尺寸穩(wěn)定性測(cè)定儀
參數(shù):
■測(cè)量范圍: O-200μm。
■執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
■測(cè)量精度:±( 0.7μm 3%H )*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。
測(cè)厚儀原理分類:
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分:
■點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
■面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,又可分為以下幾種:
■激光測(cè)厚儀
■超聲波測(cè)厚儀
■涂層測(cè)厚儀
■X射線測(cè)厚儀
■白光干涉測(cè)厚儀
■電解式測(cè)厚儀
測(cè)厚儀應(yīng)用:
■薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
■涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
■超聲波測(cè)厚儀:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
■激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
■X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
用途:
該測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。