深圳DP7300 X射線熒光光譜儀是一款全新開發(fā)研制的集鍍層測厚、RoHS指令/鹵素指令/八大重金屬指令一體的X熒光光譜儀。集準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)的極速探測器技術(shù)（SDD）。采用德國專業(yè)技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點(diǎn)連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計自動樣品平臺讓準(zhǔn)確檢測得到保證。

深圳DP7300X射線熒光光譜儀主要性能優(yōu)勢：

采用極速探測器技術(shù)，分辯率zui低至125eV

探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低

采用大功率X光管及優(yōu)良的數(shù)字多道技術(shù)

光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點(diǎn)

多點(diǎn)測試，多點(diǎn)連續(xù)測試超小樣品檢測

人性化的設(shè)計：更安全、更快捷

深圳DP7300X射線熒光光譜儀技術(shù)指標(biāo)：

型號：IDP-7300

測試對像：粉未、固體、液體
元素分析范圍：鈉（Na）—鈾（U）
同時zui多可測元素：36種

含量分析范圍：1PPM—99.99%
工作穩(wěn)定性：總熒光強(qiáng)度為0.1%
測量時間：60—200秒
儀器分辨率：127eV±5

進(jìn)口（64位）DSP數(shù)字信號處理芯片

全自動對點(diǎn)探測系統(tǒng)鼠標(biāo)點(diǎn)擊，自動對點(diǎn)

電控全自動機(jī)蓋升降軟件獨(dú)立控制

多道分析器：4096道

高壓電源：電壓范圍0～50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05%
外型尺寸：720mm×560mm×450mm（不包括支腳）
測量倉：400mm×280mm×100mm
儀器重量：70公斤

zui低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm、Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm、Cl≤5ppm

深圳DP7300 X射線熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)

操作界面簡單，測量方便，快捷；

采用127±5eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測量的精度；

能夠檢測鹵族元素的精確含量；

電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的延長X光管的壽命；

外觀高貴大方，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾；

采用*雙峰位快速自動校準(zhǔn)；

自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識分析樣品的組成；

的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等；

客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法；

設(shè)置了自動安全防護(hù)開關(guān)，以確保用戶安全使用；

無損檢測，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可準(zhǔn)確分析；

同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測量的部位。