目錄:上海塞普機(jī)電工程技術(shù)有限公司>>顆粒黑點(diǎn)儀>> SP-BS-1908臺(tái)式顆粒黑點(diǎn)儀SUNPLUS
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更新時(shí)間:2024-11-19 13:48:10瀏覽次數(shù):576評(píng)價(jià)
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,制藥,綜合 |
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臺(tái)式顆粒黑點(diǎn)儀
用途
這是一款經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式顆粒黑點(diǎn)儀,按相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分析樹脂顆粒的雜質(zhì)黑點(diǎn)或色斑的大小、數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比。
適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒,如PP、PE、PVC、PPS等等。
技術(shù)指標(biāo)
1. 測(cè)量規(guī)格:0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm,…,等等,按選用的標(biāo)準(zhǔn),可在軟件界面選定。
2. 最小檢測(cè)目標(biāo): 0.05mm
3. 檢測(cè)精度: 小于0.03mm
4. 檢測(cè)面積:不小于200×200mm
5. 器皿大小:130mm×130mm凈面積,用于顆粒黑點(diǎn)檢測(cè)
6. 放大倍數(shù):>20倍
7. 光密度:不小于6000流明
8. 光源要求: 24V/60W
9. 供電電源:220V,50HZ
10.外形尺寸:約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
儀器功能特點(diǎn)
1. 測(cè)量黑點(diǎn)的大小和數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。
2. 可提供黑點(diǎn)的分布圖譜。
3. 黑點(diǎn)圖譜可放大和縮小。
4. 被測(cè)目標(biāo)可分類計(jì)數(shù)和統(tǒng)計(jì)。
5. 按適用的標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告。
6. 報(bào)告和圖譜可打印可儲(chǔ)存。
7. 顆粒以透明器皿為載體,批次檢測(cè)。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)