全譜直讀可以分為全譜同時(shí)直讀和全譜掃描直讀。如果固態(tài)檢測(cè)器一次曝光讀出的數(shù)據(jù)覆蓋了整個(gè)波段范圍，可以認(rèn)為是全譜同時(shí)直讀；如果固態(tài)檢測(cè)器一次以上曝光，分段讀出的數(shù)據(jù)覆蓋了整個(gè)波段范圍，可以認(rèn)為是全譜掃描直讀。這兩種方式均比單道掃描速度快，對(duì)用戶而言，在做樣品分析時(shí)區(qū)別不大。

       單道掃描光譜儀從光源發(fā)出的光穿過(guò)入射狹縫后，反射到一個(gè)可以轉(zhuǎn)動(dòng)的光柵上，該光柵將光色散后，經(jīng)反射使某一條特定波長(zhǎng)的光通過(guò)出射狹縫投射到光電倍增管上進(jìn)行檢測(cè)。光柵轉(zhuǎn)動(dòng)至某一固定角度時(shí)只允許一條特定波長(zhǎng)的光線通過(guò)該出射狹縫，隨光柵角度的變化，譜線從該狹縫中依次通過(guò)并進(jìn)入檢測(cè)器檢測(cè)，完成一次全譜掃描;和多道光譜儀相比，單道掃描光譜儀波長(zhǎng)選擇更為靈活方便，分析樣品的范圍更廣，適用于較寬的波長(zhǎng)范圍。但由于完成一次掃描需要一定時(shí)間，因此分析速度受到一定限制。

        全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀:光源發(fā)出的光通過(guò)兩個(gè)曲面反光鏡聚焦于入射狹縫，入射光經(jīng)拋物面準(zhǔn)直鏡反射成平行光，照射到中階梯光柵上使光在X向上色散,再經(jīng)另一個(gè)光柵(Schmidt 光柵)在Y向上進(jìn)行二次色散，使光譜分析線全部色散在一個(gè)平面上，并經(jīng)反射鏡反射進(jìn)入面陣型CCD檢測(cè)器檢測(cè)。由于該CCD是一個(gè)紫外型檢測(cè)器，對(duì)可見(jiàn)區(qū)的光譜不敏感，因此，在Schmidt 光柵的*開(kāi)一個(gè)孔洞，部分光線穿過(guò)孔洞后經(jīng)棱鏡進(jìn)行Y向二次色散,然后經(jīng)反射鏡反射進(jìn)入另一個(gè)CCD檢測(cè)器對(duì)可見(jiàn)區(qū)的光譜(400-780nm)進(jìn)行檢測(cè)。這種全譜直讀光譜儀不僅克服了多道直讀光譜儀譜線少和單道掃描光譜儀速度慢的缺點(diǎn)，而且所有的元件都牢固地安置在機(jī)座上成為一個(gè)整體，沒(méi)有任何活動(dòng)的光學(xué)器件，因此具有較好的波長(zhǎng)穩(wěn)定性。