FSA-1光纖光譜儀及應(yīng)用光譜學(xué)實(shí)驗(yàn)    

簡介：

光譜學(xué)是一門主要涉及物理學(xué)及化學(xué)的重要交叉學(xué)科，通過光譜來研究光波與物質(zhì)之間的相互作用。光譜是電磁輻射按照波長的有序排列。根據(jù)實(shí)驗(yàn)條件的不同，各個(gè)輻射波長都具有各自的特征強(qiáng)度。通過光譜的研究，人們可以得到原子、分子等的能級(jí)結(jié)構(gòu)、能級(jí)壽命、電子的組態(tài)、分子的幾何形狀、化學(xué)鍵的性質(zhì)、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)等多方面物質(zhì)結(jié)構(gòu)的知識(shí)。但是，光譜學(xué)技術(shù)并不僅是一種科學(xué)工具，在化學(xué)分析中它也提供了重要的定性與定量的分析方法。

光纖光譜儀作為一種成本低、小型化、穩(wěn)定性高的分析儀器，國內(nèi)不少院校開始開設(shè)相關(guān)課程以滿足光譜產(chǎn)業(yè)化發(fā)展的人才需求。該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)旨在讓讓光電專業(yè)學(xué)生通過這套系統(tǒng)，提前了解相關(guān)理論，并應(yīng)用理論處理一些實(shí)際測量的問題，并可以作教師和學(xué)生的一些自主研發(fā)實(shí)驗(yàn)提供平臺(tái)。

可開設(shè)實(shí)驗(yàn)列表：

原子發(fā)射光譜的測量

氣體放電燈的光譜測量以及氫原子里德伯常數(shù)計(jì)算

輝光球發(fā)射光譜測量及輝光氣體成分判斷

激光和LED發(fā)射光譜的測量

激光光譜的測量

LED發(fā)光二極管發(fā)射光譜的測定實(shí)驗(yàn)

熱輻射光源光譜的測定

光纖溴鎢燈發(fā)射光譜測量。

熱輻射溫度與中心波長的關(guān)系

透射光譜的測量

物體透射光譜的實(shí)驗(yàn)搭建和測量

中性濾光片的透射光譜測量

干涉濾光片的透射光譜測定

有色玻璃的透過率測定（選做）

反射光譜的測定

物體反射光譜的實(shí)驗(yàn)搭建和測量

反射光譜測量的原理和標(biāo)定

幾種樣品的反射光譜測量

薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)測量

干涉薄膜反射光譜的測定

根據(jù)干涉極值（峰谷）測定薄膜的厚度

根據(jù)反射光譜用擬合算法來測定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。

色度學(xué)測定

三刺激値的概念和測定

透明物質(zhì)的色度測量

紙張涂料的色度測量

發(fā)光體的色度測量

規(guī)格參數(shù)：

1.光纖光譜儀：波長范圍：350-1000nm；光學(xué)分辨率：2nm；波長精度±1nm狹縫：25um；雜散光＜0.05%@600nm光纖連接器：SMA905；探測器：2048線陣 CCD；信噪比：250：1 全光譜；積分時(shí)間：3ms-10分鐘；A/D :12位  USB 通訊與供電，無需外部電源；功耗：120mA @ 5VDC；尺寸：64mm×89mm×36mm；重量：200g。

2.光纖鹵鎢燈光源：波長范圍：350-2500nm；燈泡功率：150W；輸出光強(qiáng)可調(diào)；預(yù)熱時(shí)間：10 分鐘；光源壽命：2000 小時(shí)；光輸出穩(wěn)定性：0.15%。

3.光纖跳線：光纖芯徑：200um，600um；數(shù)值孔徑：0.22NA；長度：500cm； 鎧甲護(hù)套；

4、反射式光纖跳線：探頭端部采用 6 繞 1 光纖束設(shè)計(jì)，中央1 根光纖收集反射光，6 根照明光纖；光纖芯徑：200um；數(shù)值孔徑 NA：0.22；鎧甲護(hù)套，SMA905接頭。

5.高亮度紅光/綠光/藍(lán)光/白光 LED 光源：波長 630nm、530nm、465nm；

6.測試樣品組件：

鍍膜硅片；選擇吸收濾光片、截止濾光片、中性密度濾光片、帶通濾光片；顏色濾光片，反射色板紙張；

7.化學(xué)實(shí)驗(yàn)器具：石英比色皿、熒光比色皿等。

8.多種光譜測試平臺(tái)：包括三通樣品池，反射探頭支架，透射式樣品支架；各種光學(xué)調(diào)整架及機(jī)械夾持件，包括導(dǎo)軌、滑塊、調(diào)整架等。

9.薄膜測厚軟件：擬合算法，薄膜測量厚度范圍 20nm-100um，可同時(shí)測量1-4層薄膜。

10光譜測量綜合軟件：光譜模式下操作光譜儀采集光譜數(shù)據(jù)，支持多種格式的數(shù)據(jù)導(dǎo)出，軟件內(nèi)置多種應(yīng)用模塊，包括顏色測量、透過率、反射率測量等。