關(guān)于X射線熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品的應(yīng)用闡述
XRF指X射線熒光,是一種識別樣品中元素類型和數(shù)量的技術(shù)。用于在整個電鍍行業(yè)范圍內(nèi)驗(yàn)證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質(zhì),加上快速測量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺式儀器等優(yōu)點(diǎn),能實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場分析并立即得到結(jié)果。
對于鍍層分析,XRF鍍層測厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測量值。在進(jìn)行測量時,X射線管產(chǎn)生的高能量x射線通過光圈聚集,并照射在樣品非常小的區(qū)域(該區(qū)域的大小為光斑尺寸)。這些X射線與光斑內(nèi)元素的原子相互作用。
XRF鍍層測厚儀相機(jī)幫助用戶準(zhǔn)確定位測量區(qū)域。某些情形下相機(jī)用于向自動操作模塊提供圖像信息,或包括放大圖像以準(zhǔn)確定位需要測量的區(qū)域。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣品臺上??焖倩蚵僖苿訉τ谡业綔y試位置很重要,隨后聚焦于準(zhǔn)確的區(qū)域進(jìn)行測量。工作臺移動的精準(zhǔn)度是帶來測試定位準(zhǔn)確的一個因素,并進(jìn)提升儀器的整體準(zhǔn)確度。
特點(diǎn):
適應(yīng)性設(shè)計,可對各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠分析
自動對焦和可選的程控臺提高了準(zhǔn)確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易
多準(zhǔn)直器設(shè)計為每個樣品提供高準(zhǔn)確性
選擇適合應(yīng)用的比例計數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)
符合行業(yè)規(guī)范,例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
光學(xué)分析單層和多層鍍層,包括合金層
簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。