介質(zhì)損耗測(cè)試儀也稱為抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀,采用變頻電源技術(shù),利用單片機(jī)和電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算,自動(dòng)化,智能化,測(cè)量數(shù)據(jù)在強(qiáng)干擾條件下是穩(wěn)定的,但測(cè)試數(shù)據(jù)在使用中顯然是不合理的通常如下。
在現(xiàn)場測(cè)試時(shí),用鉤桿對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)時(shí),吊鉤必須與試驗(yàn)產(chǎn)品良好接觸,否則接觸件的排放會(huì)引起嚴(yán)重的數(shù)據(jù)波動(dòng),特別是在過厚的氧化層或空氣管擺動(dòng)的排水管中導(dǎo)致接觸不良。
接地不良也會(huì)引起儀表保護(hù)數(shù)據(jù)的嚴(yán)重波動(dòng),接地點(diǎn)的涂層應(yīng)報(bào)廢,零電阻接地。
用端蓋法測(cè)量電磁式PT時(shí),由水分引起的T形網(wǎng)絡(luò)干擾引起的負(fù)介電損耗可以用常規(guī)法或端壓法測(cè)量,直接測(cè)量CVT的低耦合電容會(huì)導(dǎo)致負(fù)的介電損耗,因此應(yīng)采用自激法。
由于長期使用,容易造成試驗(yàn)線隱性短路,芯線屏蔽層短路或與插頭接觸不良,用戶應(yīng)始終維護(hù)測(cè)試線。當(dāng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容器測(cè)試產(chǎn)品時(shí),應(yīng)使用全屏蔽插頭來消除額外雜散電容的影響,否則,介質(zhì)損耗測(cè)試儀的精度就無法反映出來。自勵(lì)方法是測(cè)量VT中的C,非專用高壓線路應(yīng)暫停,否則,附加的雜散電容和介質(zhì)損耗會(huì)導(dǎo)致地面測(cè)量誤差。
使用萬用表測(cè)量測(cè)試電路是否開路,或芯線和屏蔽是否短路,輸入功率過高或過低,接地良好,使用正極或負(fù)極導(dǎo)線測(cè)量具有已知電容和介質(zhì)損耗的標(biāo)準(zhǔn)電容器或電容器樣品,如果結(jié)果正確,則可判斷儀器故障。
相關(guān)產(chǎn)品
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