電化學(xué)工作站 硬件參數(shù)指標(biāo)..
電化學(xué)工作站具有出色的穩(wěn)定性和精確度,*硬件和功能完善的軟件,為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺(tái)。具體應(yīng)用于:1)電合成、電沉積(電鍍)、陽(yáng)極氧化等反應(yīng)機(jī)理研究;2)電分析化學(xué)研究;電化學(xué)傳感器的性能研究;3)新型能源材料(鋰離子電池、太陽(yáng)能電池、燃料動(dòng)力電池和超級(jí)電容器等)、*功能材料以及光電材料的性能研究;4)金屬材料在不同介質(zhì)(水/混凝土/土壤等)中的腐蝕研究與耐蝕性評(píng)價(jià);5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評(píng)價(jià)。
1、硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位電位控制范圍:±10V
恒電流控制范圍:±2.0A
電位控制精度:0.1%@Fullscale±1mV
電流控制精度:0.1%@Fullscale
電位分辨率:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)
電流靈敏度:1pA
電位上升時(shí)間:<1mS(<10mA), <10mS(<2A)
參比電極輸入阻抗:1012W||20pF
電流量程:2nA~2 A , 共10檔
槽壓:±21V
最大輸出電流:2.0A
CV 和LSV掃描速度:0.001mV~10V/s
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s
電流掃描增量:1mA @1A/mS
電位掃描時(shí)電位增量:0.076mV @1V/mS
SWV頻率:0.001~100KHz
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz, 20bit @1KHz
DA分辨率:16bit, 建立時(shí)間:1mS
CV的最小電位增量:0.075mV
IMP頻率:10mHz~1MHz
低通濾波器:8段可編程
電流與電位量程:自動(dòng)設(shè)置
接口通訊模式:USB2.0
2、電化學(xué)阻抗功能指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器:
頻率響應(yīng):10mHz~1MHz
頻率精確度:0.005%
交流信號(hào)幅值:1mV~2500mV
信號(hào)分辨率:0.1mV RMS
直流偏壓:-10~+10V
DDS輸出阻抗:50W
波形:正弦波,三角波,方波
正弦波失真:<1%
掃描方式:對(duì)數(shù)/線性,增加/下降
信號(hào)分析器:
最小積分時(shí)間:10mS 或循環(huán)的最長(zhǎng)時(shí)間
最大積分時(shí)間:106個(gè)循環(huán)或者105S
測(cè)量時(shí)間延遲:0~105秒
直流偏置補(bǔ)償:
電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍:-10V~+10V
電流補(bǔ)償范圍:-1A~+1A
帶寬調(diào)整(Bandwidth) :
自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置,共8級(jí)可調(diào)
3、CorrTest測(cè)量與控制軟件主要功能
穩(wěn)態(tài)極化:開(kāi)路電位測(cè)量(OCP)、恒電位極化(I-t曲線)、恒電流極化、動(dòng)電位掃描(TAFEL曲線)、動(dòng)電流掃描(DGP)
暫態(tài)極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍(VSTEP)、多電流階躍
計(jì)時(shí)分析:計(jì)時(shí)電位法(CP)、計(jì)時(shí)電流法(CA)、計(jì)時(shí)電量法(CC)
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV)#、線性循環(huán)伏安法(CV)、階梯循環(huán)伏安法(SCV)#、方波伏安法(SWV)#、差分脈沖伏安法(DPV)#、常規(guī)脈沖伏安法(NPV)#、常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)#、差分脈沖電流檢測(cè)法(DPA)、雙差分脈沖電流檢測(cè)法(DDPA)、三脈沖電流檢測(cè)法(TPA)、積分脈沖電流檢測(cè)法(IPAD)、交流伏安法(ACV)#、二次諧波交流伏安(SHACV)、傅里葉變換交流伏安(FTACV)(標(biāo)#號(hào)的方法包括相應(yīng)的溶出伏安分析方法)
交流阻抗:電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描、電化學(xué)阻抗(EIS)~時(shí)間掃描、電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線)、恒流阻抗測(cè)試
腐蝕測(cè)量:動(dòng)電位再活化法(EPR)、電化學(xué)噪聲(EN)、電偶腐蝕測(cè)量(ZRA)、氫擴(kuò)散測(cè)試、晶間腐蝕測(cè)量
電池測(cè)試:電池充放電測(cè)試、恒電流充放電、恒電流滴定GITT、恒電位滴定PITT
其他:圓盤電極測(cè)試以及轉(zhuǎn)速控制、溶液電阻測(cè)量(IR降)、溶液電阻正反饋補(bǔ)償(IR補(bǔ)償)
4、儀器配置
1)儀器主機(jī)1臺(tái);
2)CorrTest測(cè)試與分析軟件1套
3)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
4)電極電纜線(含噪聲測(cè)量線)1條
5)模擬電解池1個(gè)(儀器自檢器件)
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