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日立分析儀器重磅發(fā)布:全新的FT160 XRF鍍層分析儀!

來源:日立分析儀器(上海)有限公司   2020年10月19日 10:14  
  日立高新技術(shù)公司(TSE:8036)的全資子公司日立分析儀器(HitachiHigh-TechAnalyticalScience)致力于分析和測(cè)量?jī)x器的制造和銷售,現(xiàn)推出新型FT160XRF光譜儀,該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級(jí)鍍層分析。
 
  隨著新型FT160系列在日本的推出,日立分析儀器目前在中國(guó)、北美、歐洲、中東和非洲銷售FT160系列鍍層分析儀并提供相關(guān)服務(wù)。日立推出的該款新一代鍍層分析儀旨在應(yīng)對(duì)測(cè)量小型部件上的超薄鍍層所帶來的挑戰(zhàn)。FT160是一種臺(tái)式EDXRF(能量色散x射線熒光)分析儀,配有強(qiáng)大的軟件和硬件,能實(shí)現(xiàn)高樣品處理量,且任何操作員均能獲取高質(zhì)量結(jié)果。由于FT160系列專為在生產(chǎn)質(zhì)量控制中發(fā)揮關(guān)鍵作用而設(shè)計(jì),因此其可在半導(dǎo)體、電路板和電子元件市場(chǎng)中被廣泛應(yīng)用。
 
  測(cè)量納米級(jí)的鍍層
 
  FT160配置部件,可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測(cè)量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測(cè)量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測(cè)器(SDD)充分利用光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量微電子和半導(dǎo)體上的納米級(jí)鍍層。高精度樣品臺(tái)和具備數(shù)字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件,以提高樣品處理量。
 
  日立分析儀器產(chǎn)品經(jīng)理MattKreiner表示:“在之前產(chǎn)品的成功基礎(chǔ)上所推出的FT160能提供重新設(shè)計(jì)的照明布置以提高零件的可視性并便于定位,且新的配置選擇方案可確保特定應(yīng)用的性能并為繁忙的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供新的緊湊型基座配置要素。該產(chǎn)品系列硬件和分析能力的不斷發(fā)展使我們的客戶更容易在快速發(fā)展的微電子領(lǐng)域控制生產(chǎn)。FT160是對(duì)我們鍍層儀器綜合系列的補(bǔ)充,這歸功于日立45多年的XRF鍍層分析儀的開發(fā)經(jīng)驗(yàn)。”
 
  FT160系列現(xiàn)已允許訂購(gòu)
 
  可通過contact@hitachi-hightech.com
 
  聯(lián)系日立分析儀器。
 
  關(guān)于日立分析儀器:
 
  日立分析儀器是日立高新技術(shù)集團(tuán)于2017年7月創(chuàng)立的性公司。該公司總部位于英國(guó)牛津,其在芬蘭、德國(guó)和中國(guó)從事研發(fā)和裝配業(yè)務(wù)并在多個(gè)國(guó)家開展銷售和支持業(yè)務(wù)。產(chǎn)品系列包括:
 
  FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光譜儀,能測(cè)量單層和多層鍍層(包括合金層)的鍍層厚度,可成為質(zhì)量控制或過程控制程序以及研究實(shí)驗(yàn)室的分析儀。
 
  FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光譜儀,能測(cè)量單層和多層鍍層(包括合金層)的鍍層厚度,可成為質(zhì)量控制或過程控制程序以及研究實(shí)驗(yàn)室的分析儀。
 
  EA1000、EA6000和HM1000RoHS(有害物質(zhì)限制指令)分析儀適用于RoHS1和RoHS2測(cè)試,使用便捷,能夠很好適應(yīng)限制指令的變化。
 
  DSC7000X、DSC7020、NEXTSTA、STA7000、TMA7100、TMA7300和DMA7100系列熱分析儀已經(jīng)過優(yōu)化,可檢測(cè)小反應(yīng)并使其可視化,同時(shí)具有堅(jiān)固耐用、可靠且易于使用的特點(diǎn)。
 
  EA8000x射線顆粒污染物分析儀用于鋰離子電池生產(chǎn)中快速有效的質(zhì)量控制。
 
  Lab-X5000和X-Supreme8000臺(tái)式XRF光譜儀可為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多種行業(yè)提供質(zhì)量保證和過程控制服務(wù)。
 
  OE750、PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和TEST-MASTER系列分析儀被世界各地的行業(yè)用于進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的金屬分析。該儀器采用直讀光譜分析技術(shù),可測(cè)定所有重要元素,能提供低檢測(cè)限和高精度,包括鋼中的碳和幾乎所有金屬中所有技術(shù)相關(guān)的主要和痕量元素。
 
  X-MET8000手持式光譜儀被成千上萬的企業(yè)用于通過XRF精密技術(shù)進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速和無損的合金分析、廢金屬分揀和金屬牌號(hào)篩選。
 
  采用LIBS激光技術(shù)的Vulcan手持式光譜儀只需一秒即可識(shí)別金屬合金,是世界上分析速度的分析儀之一。這對(duì)需要處理大量金屬的企業(yè)而言非常有利。

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