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系統(tǒng)概述
硅光電壽命測(cè)試機(jī)臺(tái)提供了一種經(jīng)濟(jì)型的OLED器件壽命測(cè)試方式，但受限于硅光電對(duì)于可見光光譜的響應(yīng)曲線與CIE的人眼視覺函數(shù)不能*匹配，當(dāng)器件在壽命衰減過(guò)程中光譜形狀發(fā)生變化，或光譜波峰發(fā)生偏移時(shí)，其測(cè)得的相對(duì)亮度值就不在準(zhǔn)確。

為了能測(cè)出OLED器件和亮度絕對(duì)值、色度和光譜在衰減過(guò)程中的變化，弗士達(dá)公司開發(fā)了光譜儀掃描式的OLED器件壽命測(cè)試方案。將分光輻射亮度計(jì)安裝于XYZ自動(dòng)移動(dòng)軸上，分別掃描每個(gè)器件發(fā)光點(diǎn)的亮度色度和光譜數(shù)據(jù)，得到器件在壽命衰減過(guò)程中的亮度、色度和光譜隨時(shí)間的變化曲線。


系統(tǒng)組成
1.FS-GA3機(jī)臺(tái)，包括三軸直線移動(dòng)控制模塊
2.分光輻射亮度計(jì)
3.自動(dòng)視覺對(duì)位工業(yè)相機(jī)
4.多通道定電壓或定電流輸出壽命測(cè)試電源；
5.多通道電壓電流測(cè)量Keithley3706A；
6.多套器件測(cè)試治具，可選常溫或獨(dú)立溫控。
7.OLED器件壽命測(cè)量軟件