美國Oakland薄膜和紙張測厚儀MX-1100儀器特性：
■操作簡單 三種操作模式：手動，數(shù)字和軟件?？赏饨哟蛴C或第三方軟件以顯示分析圖表和統(tǒng)計值。
■提供離散點測量和厚度輪廓測量 測頭可自動升降。
■豐富的擴展功能 可外接打印機，電腦和專業(yè)軟件。
美國Oakland薄膜和紙張測厚儀MX-1100技術參數(shù)和規(guī)格
| 詳細參數(shù) | |
| 可測樣品 | 所有的薄膜和薄片材料 |
|---|---|
| 測量范圍 | 0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他測量范圍 當訂購公制單位時，請um或mm顯示 |
| 行程（探頭縮回高度） | 對應的測量范圍加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil時； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil時。 |
| 精度 | +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm |
| 平行度 | +/-1.0um或更好 |
| 測頭尺寸 | 直徑4.3mm（薄膜） 直徑15.9mm（紙張） 或針對其他材料的其他尺寸 |
| 測頭壓力 | 4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm2），薄膜 7.3psi（0.513kg/cm2），紙張 或針對其他材料的其他設置 |
| 循環(huán)速率 | 20/分鐘（40/分鐘，可選），薄膜 20/分鐘（12/分鐘，可選），紙張 或針對其他材料的其他設置 |
| 下落速率 | 1mm/sec，紙張 |
| 儀器尺寸（寬x長x高） | 25 x 25 x 28 cm |
| 標準配置 | 主機，標準厚度片，腳踏開關 |
| 選配件 | 打印機，質(zhì)量控制軟件（Quality Control Software） |
| 符合標準 | ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370 |
咨詢：
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