目錄:卡爾蔡司(上海)管理有限公司>>X射線顯微鏡>> VersaXRM 615 & 730工業(yè)CT-蔡司X射線顯微鏡
產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,冶金,綜合 |
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[產(chǎn)品簡介]
作為VersaXRM系列中的前沿產(chǎn)品,蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730 在科學(xué)探索和工業(yè)研究領(lǐng)域為您開啟了多樣化應(yīng)用的新高度。
采用光學(xué)和幾何兩級放大成像架構(gòu),可實現(xiàn)大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學(xué)物鏡耦合技術(shù)可實現(xiàn)高襯度和增強的相位襯度成像。基于出色的高分辨率和襯度,蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730拓展了無損成像的研究界限,大大提高了研究靈活性,加快您的研究進展。創(chuàng)新的數(shù)據(jù)采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現(xiàn)對搜索和發(fā)現(xiàn)的感興趣區(qū)域進行高分辨成像,實現(xiàn)從探索到發(fā)現(xiàn)的工作流無縫銜接。全系列的VersaXRM系統(tǒng)都支持快速掃面模式FAST Mode擴展,可實現(xiàn)1分鐘內(nèi)快速三維掃描成像;同時兩款產(chǎn)品均兼容ART高級重構(gòu)工具箱,利用AI技術(shù)提高成像效率或改善成像質(zhì)量。
[產(chǎn)品特點]
三維無損成像
真實空間分辨率: 500nm@ VersaXRM 615, 450 nm@VersaXRM 730,最小體素40nm
更快的成像速度
特別的大工作距離下高分辨率,可實現(xiàn)不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像
吸收、相位和衍射襯度成像模式
4D 原位成像能力
可升級和拓展
利用AI技術(shù)提高成像效率或改善成像質(zhì)量
[應(yīng)用領(lǐng)域]
ü 材料科學(xué),如三維無損分析
ü 生命科學(xué),如微觀結(jié)構(gòu)成像
ü 地球科學(xué),如地質(zhì)、油氣、礦產(chǎn)、古生物等三維成像
ü 電子和半導(dǎo)體行業(yè),如形貌測量及失效分析
ü 原位力學(xué)、變溫試驗
ü 衍射襯度成像,實現(xiàn)三維晶粒取向分析
復(fù)合材料 電子半導(dǎo)體 生命科學(xué)(腦神經(jīng))
古生物 油氣地質(zhì)(致密砂巖)
新能源鋰電池
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