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OmniScan MX EC渦流檢測(cè)-ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷
  • OmniScan MX EC渦流檢測(cè)-ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷
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更新時(shí)間:2024-08-05 21:00:06

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OLYMPUS湖北代理-上海玖橫儀器有限公司,OmniScan MX EC渦流檢測(cè)ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷,渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來(lái)自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan MX EC渦流檢測(cè)ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷

 

OmniScan MX ECA渦流陣列檢測(cè)

渦流陣列技術(shù)OLYMPUS湖北代理-上海玖橫儀器有限公司

渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來(lái)自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。

OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈(使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè))。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢(shì)

同單通道渦流技術(shù)相比,渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì):

l  檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。

l  單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。

l  減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

l  提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。

l  適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。

l  改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率(POD)。

OmniScan_MX_ECA_BondTesting_01.psd

 

粘接檢測(cè),重新打造

相同掃描中的8種頻率OLYMPUS福建代理-上海玖橫儀器有限公司

粘接檢測(cè)的改進(jìn)特性

  • C掃描成像
  • 可同時(shí)驅(qū)動(dòng)8種不同的頻率
  • 計(jì)算缺陷大小的性能
  • 改進(jìn)的POD
  • 相位/波幅的顯示模式

重要事項(xiàng)

  • 由于所使用的探頭與BondMaster 1000e+儀器相同,因此探測(cè)方式也與這款儀器相似。
  • 設(shè)計(jì)支持一發(fā)一收探頭。
  • 需要雙軸編碼掃查器生成C掃描。

OmniScan_Composite_WING_01.psd高級(jí)復(fù)合材料檢測(cè)

我們Olympus不無(wú)自豪地為廣大用戶推出了一款新開(kāi)發(fā)的粘接檢測(cè)OmniScan解決方案:這無(wú)疑是復(fù)合材料檢測(cè)行業(yè)中的一大進(jìn)步。如今,使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。這款OmniScan解決方案不僅可*地適用于蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的脫膠檢測(cè),還可以進(jìn)行分層檢測(cè),且結(jié)果的精確程度與脫膠檢測(cè)相比絲毫不差。雖然這個(gè)解決方案主要為航空航天工業(yè)的在役檢測(cè)而設(shè)計(jì),但是在包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中也非常有用,如:針對(duì)復(fù)合材料船體的檢測(cè)。

已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購(gòu)標(biāo)準(zhǔn)的BondMaster探頭(P14和SPO-5629)及BondMaster線纜,就可以使用這個(gè)解決方案完成檢測(cè)應(yīng)用。

我們特別為復(fù)合材料的檢測(cè)開(kāi)發(fā)定制了MXB軟件。其新添的功能,如:向?qū)Ш蜆?biāo)準(zhǔn)化,有助于保持操作的簡(jiǎn)潔性。

A%c3%a9ro_BondTesting_02.psd

編碼系統(tǒng):可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測(cè)工件。Olympus提供兩個(gè)選項(xiàng):一個(gè)是可*地適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器;另一個(gè)是WING掃查器,這款掃查器專門(mén)為掃查曲面工件而設(shè)計(jì)(如:航天飛機(jī)的機(jī)身),而且因其具有Venturi真空吸盤(pán)系統(tǒng),甚至可以倒置進(jìn)行操作。此外,裝有步進(jìn)點(diǎn)擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個(gè)系統(tǒng)兼容,從而加強(qiáng)了系統(tǒng)的多用性。

創(chuàng)新型C掃描視圖OLYMPUS西安代理-上海玖橫儀器有限公司

Olympus又一次創(chuàng)新了在屏幕上顯示數(shù)據(jù)的方法。針對(duì)每個(gè)C掃描,操作人員可以有兩個(gè)視圖選擇:一種是波幅C掃描,不會(huì)考慮相位情況,只基于信號(hào)的波幅而顯示不同的顏色,這是一個(gè)可清晰、有效地探測(cè)脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描,使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化,有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示,如:油灰填塞(修補(bǔ))缺陷或分層缺陷。

相位C掃描,光標(biāo)處于鑄封缺陷上

OS_BondTesting_55.psd

OS_BondTesting_53.psd

OS_BondTesting_56.psd

OS_BondTesting_52.psd

低頻掃描;波幅C掃描,光標(biāo)處于脫膠缺陷上

高頻掃描;相位C掃描,不同的彩色調(diào)色板

高頻掃描;相位C掃描,光標(biāo)處于分層缺陷上

OS_BondTesting_65.psd

OS_BondTesting_69.psd

OS_BondTesting_57.psd

兩個(gè)C掃描視圖

全屏C掃描視圖

缺陷大小估算功能

要求使用的設(shè)備

這個(gè)解決方案有兩種不同的配置,兩種配置都需要以下標(biāo)準(zhǔn)部件。

標(biāo)準(zhǔn)部件OLYMPUS廣州代理-上海玖橫儀器有限公司

OmniScan_2003_08.psd

OS_BondTesting_53.psd

BondTester_Probe_03.psd

OmniScan MX和ECA/ECT模塊

MXB軟件

用于連接OmniScan產(chǎn)品的BondMaster探頭適配器

手動(dòng)配置 

Scanner_BondTesting_02.psd

HSB-01手持式掃查器

半自動(dòng)配置

Scanner_Glider_04.psd

雙軸掃查器OLYMPUS長(zhǎng)春代理-上海玖橫儀器有限公司

BondTester_Probe_01.psd

BondTester_Probe_02.psd

帶ACIX1520探頭架的SPO-5629-PHV探頭

帶ACIX1519探頭架的S-PC-P14探頭

渦流陣列探頭

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀,可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

 

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。

 

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

    

探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形。

 

用于腐蝕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。

 

用于表面裂痕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。

 

用于表面裂痕檢測(cè)的探頭。

 OmniScan MX EC渦流檢測(cè)ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷

渦流陣列軟件

簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

                    

l  采集模式顯示分析模式顯示

l  C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,可快速有效地檢測(cè)缺陷。

l  分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)。

l  波幅、相位和位置測(cè)量。

l  可調(diào)彩色調(diào)色板。

l  大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)。

校準(zhǔn)向?qū)?/p>

l  分步進(jìn)行。

l  一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn),每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。

l  波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。

報(bào)警

l  3個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。

l  可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀(扇形、長(zhǎng)方形、環(huán)形等)。

自動(dòng)探頭識(shí)別和配置

l  探頭被連接后,C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動(dòng)設(shè)置。

l  頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理OLYMPUS石家莊代理-上海玖橫儀器有限公司

                         

l  實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。

l  使用兩個(gè)頻率,可生成一個(gè)MIX信號(hào),以去除干擾信號(hào)(如:提離、緊固件信號(hào)等)。

 

l  數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例:在搭接處邊緣檢測(cè)出裂紋,因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果,特別是對(duì)小裂紋而言。

                      

 

技術(shù)規(guī)格

基本規(guī)格

外型尺寸(寬 x 高 x 厚)

244毫米 x 182毫米 x 57毫米

(9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸)

重量

1.2公斤(2.6磅)

接口

1個(gè)OmniScan®渦流陣列探頭接口

1個(gè)19針Fischer®渦流探頭接口

1個(gè)BNC接口

通道數(shù)量

32個(gè)通道,帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器

64個(gè)通道,帶外置多路轉(zhuǎn)換器

探頭識(shí)別

自動(dòng)探頭識(shí)別和設(shè)置

發(fā)生器

發(fā)生器數(shù)量

1個(gè)(帶內(nèi)置電子參考)

電壓

12 Vp-p,10 Ω

工作頻率

20 Hz~6 MHz

帶寬

8 Hz~5 kHz(單線圈中)。同時(shí)隙成反比例關(guān)系,并通過(guò)儀器在多路模式下設(shè)定。

接收器

接收器數(shù)量

1個(gè)~4個(gè)

輸入信號(hào)

1 Vp-p

增益

28 dB~68 dB

內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器

發(fā)生器數(shù)量

32個(gè)(8?jìng)€(gè)時(shí)隙時(shí),4個(gè)發(fā)生器同時(shí)工作;使用外部多路轉(zhuǎn)換器時(shí),多達(dá)64個(gè))

電壓

12 Vp-p,50 Ω

接收器數(shù)量

4個(gè)差分接收器(每個(gè)8時(shí)隙)

輸入信號(hào)

1 Vp-p

數(shù)據(jù)采集

數(shù)字化頻率

40 MHz

采集速率

1 Hz~15 kHz(單線圈中)。 速率可由儀器處理能力限制,或通過(guò)多路激發(fā)模式的延遲設(shè)定所限制。

A/D分辨率

16比特

數(shù)據(jù)處理

相位旋轉(zhuǎn)

0°~360°,步距為0.1°

濾波

FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻(截止頻率可調(diào))、中值濾波器(在2點(diǎn)~200點(diǎn)之間變化)、平均濾波器(在2點(diǎn)~200點(diǎn)之間變化 )

通道處理

混合

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

文件容量

取決于內(nèi)部閃存空間:180 MB(或者300 MB,可選)

數(shù)據(jù)同步OLYMPUS沈陽(yáng)代理-上海玖橫儀器有限公司

按內(nèi)部時(shí)鐘

1 Hz~15 kHz(單線圈)

外部步速

按編碼器

單軸或雙軸

報(bào)警器

報(bào)警器數(shù)量

3個(gè)

報(bào)警區(qū)域形狀

扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形

輸出類型

視頻、音頻以及TTL信號(hào)

模擬輸出

1個(gè)(X或Y)

 

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