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更靈活的刷式掃查器詳細動態(tài)

更有信心的腐蝕檢測、更好的C掃描成像

ZETEC公司新研發(fā)的手動掃查器，可加載多種超聲相控陣探頭，結合TOPAZ系列便攜式超聲相控陣系統(tǒng)可進行C掃描成像

• 主要應用于金屬平板或管道的腐蝕檢測
• 母材的缺陷檢測
• 金屬工件厚度減薄測量
• 復合材料分層缺陷

主要技術性能如下：

• 手動掃查器：小巧靈活，使用方便，單手即可完成檢測操作
• 掃查效率高，較短時間內即可完成缺陷檢測
• 兩平行編碼輪：實時記錄兩個輪子的位差，實現(xiàn)各個方向的準定位
• 兩種類型的編碼輪可自行更換：鐵磁性輪可進行碳鋼等鐵磁性材料的檢測，非鐵磁性輪可用于復合材料的檢測
• 兩個控制按鈕

       開始/停止數(shù)據(jù)采集：用于控制數(shù)據(jù)采集狀態(tài)

       開啟/關閉耦合泵：用于控制探頭耦合

• 實時成像效果好，從圖像可直觀看到缺陷分布情況
• 兼容多種相控陣探頭，可對不同厚度，不同類型的材料進行檢測
• 位置跟蹤：誤差小于1mm
• 適用于平板或管道掃查，最小可檢測管徑為6英寸

Paintbrush刷式掃查器詳細動態(tài)在檢測時可以得到更準的位置編碼信息，更好的成像效果，有效解決了輪式探頭掃查器容易出現(xiàn)的掃查步進位置的誤差和掃查重復覆蓋問題。并且在檢測過程中可以實時查看探頭位置和數(shù)據(jù)，確保檢測過程能夠很好地覆蓋所有目標區(qū)域，從而正確評估整個檢測過程，得出準確的結論。