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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
OmniScan MX EC渦流檢測ECA/EC渦流陣列檢測儀檢測金屬表面缺陷探傷
OmniScan MX ECA渦流陣列檢測
渦流陣列技術OLYMPUS湖北代理-上海玖橫儀器有限公司
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢：
l 檢測時間大幅度降低。
l 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
l 減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性。
l 提供檢測區(qū)域實時圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
l 適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
l 改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
粘接檢測的改進特性
重要事項
高級復合材料檢測我們Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了一款新開發(fā)的粘接檢測OmniScan解決方案：這無疑是復合材料檢測行業(yè)中的一大進步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實。這款OmniScan解決方案不僅可*地適用于蜂窩結構復合材料的脫膠檢測，還可以進行分層檢測，且結果的精確程度與脫膠檢測相比絲毫不差。雖然這個解決方案主要為航空航天工業(yè)的在役檢測而設計，但是在包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中也非常有用，如：針對復合材料船體的檢測。
已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標準的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就可以使用這個解決方案完成檢測應用。
我們特別為復合材料的檢測開發(fā)定制了MXB軟件。其新添的功能，如：向導和標準化，有助于保持操作的簡潔性。
編碼系統(tǒng)：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測工件。Olympus提供兩個選項：一個是可*地適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個是WING掃查器，這款掃查器專門為掃查曲面工件而設計（如：航天飛機的機身），而且因其具有Venturi真空吸盤系統(tǒng)，甚至可以倒置進行操作。此外，裝有步進點擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個系統(tǒng)兼容，從而加強了系統(tǒng)的多用性。
Olympus又一次創(chuàng)新了在屏幕上顯示數(shù)據(jù)的方法。針對每個C掃描，操作人員可以有兩個視圖選擇：一種是波幅C掃描，不會考慮相位情況，只基于信號的波幅而顯示不同的顏色，這是一個可清晰、有效地探測脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描，使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補）缺陷或分層缺陷。
相位C掃描，光標處于鑄封缺陷上
低頻掃描；波幅C掃描，光標處于脫膠缺陷上
高頻掃描；相位C掃描，不同的彩色調(diào)色板
高頻掃描；相位C掃描，光標處于分層缺陷上
兩個C掃描視圖
全屏C掃描視圖
缺陷大小估算功能
這個解決方案有兩種不同的配置，兩種配置都需要以下標準部件。
標準部件OLYMPUS廣州代理-上海玖橫儀器有限公司
OmniScan MX和ECA/ECT模塊
MXB軟件
用于連接OmniScan產(chǎn)品的BondMaster探頭適配器
手動配置
HSB-01手持式掃查器
半自動配置
雙軸掃查器OLYMPUS長春代理-上海玖橫儀器有限公司
帶ACIX1520探頭架的SPO-5629-PHV探頭
帶ACIX1519探頭架的S-PC-P14探頭
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
傳感器之間的多路轉換技術。
渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設置具有更大的靈活性。
探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應檢測部件的外形。
用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。
用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。
用于表面裂痕檢測的探頭。
OmniScan MX EC渦流檢測ECA/EC渦流陣列檢測儀檢測金屬表面缺陷探傷
渦流陣列軟件
簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
l 采集模式顯示分析模式顯示
l C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷。
l 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
l 波幅、相位和位置測量。
l 可調(diào)彩色調(diào)色板。
l 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
l 分步進行。
l 一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。
l 波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設定。
報警
l ３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
l 可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀（扇形、長方形、環(huán)形等）。
自動探頭識別和配置
l 探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設置。
l 頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
實時數(shù)據(jù)處理OLYMPUS石家莊代理-上海玖橫儀器有限公司
l 實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。
l 使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。
l 數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。
技術規(guī)格
基本規(guī)格 | |
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 （9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） |
重量 | 1.2公斤（2.6磅） |
接口 | 1個OmniScan®渦流陣列探頭接口 1個19針Fischer®渦流探頭接口 1個BNC接口 |
通道數(shù)量 | 32個通道，帶內(nèi)置多路轉換器 64個通道，帶外置多路轉換器 |
探頭識別 | 自動探頭識別和設置 |
發(fā)生器 | |
發(fā)生器數(shù)量 | 1個（帶內(nèi)置電子參考） |
電壓 | 12 Vp-p，10 Ω |
工作頻率 | 20 Hz～6 MHz |
帶寬 | 8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關系，并通過儀器在多路模式下設定。 |
接收器 | |
接收器數(shù)量 | 1個～4個 |
輸入信號 | 1 Vp-p |
增益 | 28 dB～68 dB |
內(nèi)置多路轉換器 | |
發(fā)生器數(shù)量 | 32個（８個時隙時，4個發(fā)生器同時工作；使用外部多路轉換器時，多達64個） |
電壓 | 12 Vp-p，50 Ω |
接收器數(shù)量 | 4個差分接收器（每個8時隙） |
輸入信號 | 1 Vp-p |
數(shù)據(jù)采集 | |
數(shù)字化頻率 | 40 MHz |
采集速率 | 1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發(fā)模式的延遲設定所限制。 |
Ａ/D分辨率 | 16比特 |
數(shù)據(jù)處理 | |
相位旋轉 | 0°～360°，步距為0.1° |
濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調(diào)）、中值濾波器（在2點～200點之間變化）、平均濾波器（在2點～200點之間變化 ） |
通道處理 | 混合 |
數(shù)據(jù)存儲 | |
文件容量 | 取決于內(nèi)部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
數(shù)據(jù)同步OLYMPUS沈陽代理-上海玖橫儀器有限公司 | |
按內(nèi)部時鐘 | 1 Hz～15 kHz（單線圈） |
外部步速 | 有 |
按編碼器 | 單軸或雙軸 |
報警器 | |
報警器數(shù)量 | 3個 |
報警區(qū)域形狀 | 扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形 |
輸出類型 | 視頻、音頻以及TTL信號 |
模擬輸出 | 1個（X或Y） |
相關產(chǎn)品
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