Met One BAM-1022 粒子計(jì)數(shù)器
Met One 實(shí)時(shí)便攜式β衰減質(zhì)量監(jiān)測(cè)器，以1分鐘的時(shí)間分辨率連續(xù)測(cè)量收集到玻璃濾紙上的環(huán)境顆粒物的質(zhì)量濃度。bam 1022采用在線采樣幾何結(jié)構(gòu)，其中測(cè)量了β射線穿過濾料的衰減，同時(shí)對(duì)顆粒物進(jìn)行采樣。這使得環(huán)境采樣幾乎每小時(shí)60分鐘。它還允許在幾乎一小時(shí)內(nèi)進(jìn)行β射線測(cè)量，從而提高靈敏度和時(shí)間分辨率

Met One BAM-1022 粒子計(jì)數(shù)器

Met One 實(shí)時(shí)便攜式β衰減質(zhì)量監(jiān)測(cè)器，以1分鐘的時(shí)間分辨率連續(xù)測(cè)量收集到玻璃濾紙上的環(huán)境顆粒物的質(zhì)量濃度。bam 1022采用在線采樣幾何結(jié)構(gòu)，其中測(cè)量了β射線穿過濾料的衰減，同時(shí)對(duì)顆粒物進(jìn)行采樣。這使得環(huán)境采樣幾乎每小時(shí)60分鐘。它還允許在幾乎一小時(shí)內(nèi)進(jìn)行β射線測(cè)量，從而提高靈敏度和時(shí)間分辨率

Met One BAM-1022 粒子計(jì)數(shù)器

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One BAM-1020 連續(xù)顆粒物監(jiān)測(cè)儀

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One BAM-1022 顆粒物監(jiān)測(cè)儀

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One E-BAM PLUS 顆粒物監(jiān)測(cè)儀

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One e-bam 顆粒物監(jiān)測(cè)儀

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One E-FRM 參考顆粒采樣器

Met One "

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)E-Sampler電子采樣器雙環(huán)境監(jiān)測(cè)器/采樣器"

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One E-SEQ-FRM 順序參考顆粒取樣器

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One ES-642遠(yuǎn)程粉塵監(jiān)測(cè)儀

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One NPM 2 網(wǎng)絡(luò)微粒監(jiān)測(cè)器

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One sass和super-sass物種形成采樣器

凱盛源優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Met One Air Plus Software 軟件

 BAM 1022采用*的“原位”取樣技術(shù)，其中β測(cè)量保持在高于環(huán)境條件的接近固定溫度，從而將由于樣品流中的半揮發(fā)性顆粒物質(zhì)損失或過多水分造成的測(cè)量誤差降至低。無需使用昂貴的Nafion烘干機(jī)即可進(jìn)行高精度測(cè)量，從而提高可靠性并降低運(yùn)行成本。綜合庇護(hù)所不采用空調(diào)，取樣系統(tǒng)也不采用分流裝置。這使得服務(wù)更容易，可靠性更高，功耗更低。

BAM 1022集成在自己的輕型設(shè)備艙內(nèi)，配有易于拆卸的泵箱，非常適合安裝在沒有久性結(jié)構(gòu)或步入式艙的區(qū)域。由于不需要空調(diào)，耗電量不大。沒有一個(gè)部件的重量超過40磅。這意味著它很容易由一個(gè)人運(yùn)輸。整個(gè)系統(tǒng)可以在不到十分鐘的時(shí)間內(nèi)建立并投入運(yùn)行。

功能特色

PM的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，提供高精度、小的測(cè)量偽影。

減少背景確定頻率。

在高環(huán)境露點(diǎn)下的性能。

高級(jí)通信功能允許遠(yuǎn)程操作和基于云的通信。

高級(jí)診斷。

與其他在線β衰減質(zhì)量監(jiān)測(cè)器相比，靈敏度有所提高。

氣象和其他傳感器輸入。

行業(yè)：

環(huán)境咨詢

政府

應(yīng)用：

環(huán)境監(jiān)測(cè)

依從性測(cè)試

粉塵監(jiān)測(cè)

排放取樣