產(chǎn)品簡(jiǎn)介

 薄膜體積表面電阻測(cè)試儀 航天偉創(chuàng)用于測(cè)量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試完畢后高壓短路放電保護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，儀器的最一高量程10^17Ω電阻值。

技術(shù)參數(shù)

電阻范圍：（10⁴ ～10 ¹⁷）Ω。

電阻測(cè)量誤差：    1×10⁴～1×10⁹ Ω±1%；

  1×10⁹～1×10¹² Ω±1.5%；

1×10¹²～1×10¹⁷ Ω±5%；         

    測(cè)試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

絕緣電阻

通常采用絕緣電阻測(cè)試儀(又稱高阻計(jì)、兆歐表)進(jìn)行測(cè)量。規(guī)定以加電壓60s后測(cè)得的數(shù)值為該試品的絕緣電阻。

當(dāng)被試品絕緣中存在貫通的集中性缺陷時(shí)，反映Ig的絕緣電阻往往明顯下降，于是用絕緣電阻表檢查時(shí)便可以發(fā)現(xiàn)。但對(duì)于許多電氣設(shè)備，例如電機(jī)，反映Ig的絕緣電阻往往變動(dòng)甚大，因?yàn)樗偤捅辉嚻返臏囟燃绑w積尺寸有關(guān)系，往往難以給出一定的絕緣電阻判斷標(biāo)準(zhǔn)。通常把處于同樣運(yùn)行條件下的不同相的絕緣電阻進(jìn)行比較，或是把這一次測(cè)得的絕緣電阻和過去在相近溫度下對(duì)它測(cè)出的絕緣電阻進(jìn)行互相比較來(lái)發(fā)現(xiàn)問題。

需要注意的是，有時(shí)，雖然某些集中性缺陷已發(fā)展得很嚴(yán)重，以致在耐電壓試驗(yàn)中被擊穿，但耐電壓試驗(yàn)前測(cè)出的絕緣電阻值和吸收比卻都很高，這是因?yàn)檫@些缺陷雖然嚴(yán)重，但還沒有貫通的緣故。因此，只憑絕緣電阻的測(cè)量來(lái)判斷絕緣是不可靠的，但它畢竟是一種簡(jiǎn)單而有一定效果的方法，故使用十分普遍。

常用接線方法

ZST-212薄膜體積表面電阻測(cè)試儀 航天偉創(chuàng)用三電極系統(tǒng)測(cè)試絕緣材料的體積電阻和表面電阻。

屏蔽箱內(nèi)三個(gè)接線端子，左側(cè)測(cè)試端插黑線，接下電極（直徑最大的圓柱電極），中間插入圓柱電極（測(cè)試電極），右側(cè)插紅線，接圓環(huán)電極。