篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-09-04 13:55:03瀏覽次數(shù):3519
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,印刷包裝,冶金,航天,汽車 |
FERITSCOPERFMP30用于確定奧氏體和雙相鋼的鐵素體含量,并確定奧氏體材料中變形馬氏體的比例。
儲(chǔ)存和運(yùn)輸以及校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
使用基礎(chǔ)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)(鐵氧體標(biāo)準(zhǔn)品)對(duì)儀器進(jìn)行歸一化和校準(zhǔn)。
正確的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)條件是正確校準(zhǔn)并因此進(jìn)行正確測(cè)量的重要先決條件。
請(qǐng)遵守以下內(nèi)容以確保校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的正確條件:
為了在接觸測(cè)量期間將底座和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件的磨損降至*低,請(qǐng)僅將它們用于校準(zhǔn),而不用于測(cè)試測(cè)量!
不要弄臟或刮擦校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)!
用未損壞的干凈標(biāo)準(zhǔn)物替換腐蝕或刮傷的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)物或帶有強(qiáng)凹痕的標(biāo)準(zhǔn)物。
為防止校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品弄臟或損壞,請(qǐng)將其保存在隨附的包裝盒中以進(jìn)行運(yùn)輸和存儲(chǔ)。
鐵素體檢測(cè)儀fmp30的使用說(shuō)明DEL鍵功能說(shuō)明:
選出最后測(cè)得的讀數(shù)
重復(fù)按DEL:連續(xù)刪除openblock的讀數(shù)。
2 x DEL:在標(biāo)準(zhǔn)化過(guò)程中刪除所有讀數(shù):
1x DEL-刪除最后一個(gè)讀數(shù),
2x DEL-刪除基礎(chǔ)材料的測(cè)量系列。在校準(zhǔn)期間:
1x DEL-刪除最后一個(gè)讀數(shù),
2x DEL-刪除當(dāng)前校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量系列。
重復(fù)按DEL鍵:刪除先前校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量系列。
..在所有菜單中:
DEL-返回上一級(jí)菜單或取消該過(guò)程。
所有可以連接到儀器的探頭在其連接器插頭中均配有一個(gè)存儲(chǔ)芯片,即所謂的EEPROM。 特定于探針的信息(例如,探針類型,生產(chǎn)編號(hào),測(cè)量方法或主特性系數(shù))被**存儲(chǔ)(即使沒(méi)有電源)在該存儲(chǔ)芯片中,該信息可能會(huì)被覆蓋多次 如預(yù)期的。接通儀器電源時(shí),該信息將由儀器自動(dòng)檢索和處理。 儀器“識(shí)別"連接的探頭。僅當(dāng)使用分配給打開(kāi)的應(yīng)用程序的探針進(jìn)行測(cè)量時(shí),才能執(zhí)行正確的測(cè)量。
各種探針模型可用于對(duì)具有不同形狀和不同表面特性的物體進(jìn)行測(cè)量。 具有不同測(cè)量范圍的特殊探頭可用于以下應(yīng)用領(lǐng)域,例如:
特別粗糙或磨蝕的表面
特別柔軟的表面
表面受潮濕,酸性污染,特別是厚涂層或薄涂層
熱表面
管道和鉆孔中的涂層
有關(guān)可用的探頭型號(hào)和適合您的應(yīng)用的探頭型號(hào),請(qǐng)參見(jiàn)手冊(cè)“測(cè)量探頭和測(cè)量輔助工具-優(yōu)化的探頭3"。相應(yīng)的探頭數(shù)據(jù)表。您可以從Helmut Fischer GmbH或授權(quán)的供應(yīng)商處獲得此手冊(cè)。
1. 為了獲得可以比較的結(jié)果,儀器必須用可以追溯到國(guó)際上接受的二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。
2. 為此,IIW(英國(guó)國(guó)際焊接協(xié)會(huì))發(fā)展了二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)片,根據(jù)DIN EN ISO8249標(biāo)準(zhǔn)和ANSI/AWS A4.2標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法制造。
3. Helmut Fischer提供鑒定過(guò)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片供客戶校準(zhǔn)儀器,這些標(biāo)準(zhǔn)片可以追溯到TWI二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)片。
4. 標(biāo)準(zhǔn)片上標(biāo)明了兩種單位:鐵素體個(gè)數(shù)FN和百分比含量%Fe。
5. 可通過(guò)發(fā)貨前設(shè)置修正系數(shù)或用客戶定制的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器來(lái)減少工件幾何形狀(曲率、厚度等)對(duì)測(cè)量的影響。
6. 不同的校準(zhǔn)信息分別儲(chǔ)存在不同的應(yīng)用程式內(nèi)。
標(biāo)準(zhǔn)配置:FERITSCOPE® FMP30 604-300儀器,背帶,儀器箱,電池組,打印版操作指導(dǎo),CD光盤(pán)(含操作說(shuō)明和USB驅(qū)動(dòng)程序,連接電纜FMP/PC