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FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測(cè)厚儀介紹：

       多用途的鍍層厚度測(cè)量?jī)x。無(wú)論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過(guò)選擇好的高壓濾片組合很好地測(cè)量。微聚焦管可以達(dá)到在很短的測(cè)量距離內(nèi)小到100 μm的測(cè)量點(diǎn)大小。高達(dá)數(shù)kcps的計(jì)數(shù)率可以被比例接收器接收到。對(duì)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測(cè)量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測(cè)量室，這樣大的物品也可以測(cè)量。殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測(cè)量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無(wú)法*放入測(cè)量室，樣品直接放置在平整的支撐臺(tái)上，或者定位精度更高的手動(dòng)XY工作臺(tái)上。

XULM 240介紹：

       XULM適合測(cè)量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測(cè)量點(diǎn)小可達(dá)約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對(duì)高的計(jì)數(shù)率。即使很短的測(cè)量時(shí)間也可以達(dá)到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵(lì)條件。

應(yīng)用實(shí)例:

XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測(cè)量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為?0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。