篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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更新時間:2024-09-01 07:06:37瀏覽次數(shù):1972
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Renishaw TP200坐標(biāo)機測頭理想性價比
觸發(fā)式測頭測量離散的點,是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng),既可在手動坐標(biāo)測量機上進行簡單的性能檢測,也可在數(shù)控高速機器上進行復(fù)雜輪廓測量。
TP200系統(tǒng)組件包括:
具有模塊交換功能的超小型測頭,它使用應(yīng)變片機構(gòu),比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。還有一種EO模塊(長過行程),過行程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護。
TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
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