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QNix  4500電鍍層測(cè)厚儀

一、簡(jiǎn)介

QuaNix4200/4500是利用霍爾原理而設(shè)計(jì)的探頭與主機(jī)一體化式金屬涂層測(cè)厚儀。QuaNix4200用于測(cè)量鐵磁性基體（如鋼、鐵）上的涂層，如油漆、各種防腐層、粉噴涂等。QuaNix4500帶Fe/NFe兩用探頭，既可用于測(cè)量磁性基體，又可測(cè)量非磁性基體如銅、鋁、合金等上的涂層。

二、測(cè)量
   將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)開(kāi)機(jī)并測(cè)得數(shù)據(jù)。注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面。

三、調(diào)零
   儀器在測(cè)量前，為減少測(cè)量誤差，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)?？梢杂脹](méi)有涂層的工件表面也可以用隨儀器帶基體。用儀器測(cè)量基體，如顯示0，表明已是零位，不用再調(diào)零。如不顯示0，則需要調(diào)零。將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開(kāi)，液晶顯示一組數(shù)后，拿開(kāi)儀器，液晶顯示0，調(diào)零完畢。注意：由于工件表面粗糙度的原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是的零位，這是正?，F(xiàn)象。

四、Fe/NFe探頭轉(zhuǎn)換
   QuaNix4500為兩用探頭，當(dāng)測(cè)量不同的基體時(shí)，需要對(duì)磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進(jìn)行轉(zhuǎn)換。在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下，按紅鍵進(jìn)入菜單選項(xiàng)，繼續(xù)按紅鍵選擇Fe或者Nfe選項(xiàng)短暫停留后，就已選擇相應(yīng)的測(cè)量模式，也可以選擇FeNfe選項(xiàng)，短暫停留后就進(jìn)入自動(dòng)識(shí)別基體模式（推薦使用）！

五、顯示

    Fe：測(cè)量鐵磁性基體模式

    NFe：測(cè)量非磁性基體模式

    Err：操作失誤

    INFI：探頭模式與被測(cè)基體不符

BAT：電量不足，需換電池

六、維護(hù)和維修

QNix  4500電鍍層測(cè)厚儀采用良好的電子技術(shù),能滿足各種不同的測(cè)量要求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長(zhǎng)。儀器需要保持清潔,不要摔落, 避免與潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變 化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴露在強(qiáng)烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,這時(shí)處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(zhǎng)期不被使用時(shí),為避免因漏電而 損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門隨時(shí)竭誠(chéng)為您服務(wù)。

QNix  4500電鍍層測(cè)厚儀常規(guī)型

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。

覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測(cè)厚儀器。

采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。