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QNix 4500便攜膜厚儀

 尼克斯測(cè)厚儀檢測(cè)的方法
無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一門(mén)理論上綜合性較強(qiáng)，又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。
在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類(lèi)材料的保護(hù)或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層"。覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*手段。
目前，國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍小。因有放射源，故使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法，隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微處理機(jī)技術(shù)后，測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm，精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

   測(cè)厚儀采用的電子技術(shù),能滿足各種不同的測(cè)量要求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長(zhǎng)。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性 和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強(qiáng)烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(zhǎng)期不被使用時(shí), 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門(mén) 隨時(shí)竭誠(chéng)為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購(gòu)買(mǎi)之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。

QNix 4500便攜膜厚儀

   可以測(cè)量磁性基體(Fe模式)；可以測(cè)量非磁性基體(NFe模式)；測(cè)量范圍：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um；顯示精度:0.1um；精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)  1000-3000um≤±3%讀數(shù)；zui小接觸面：10×10mm；zui小曲率半徑:凸面：3mm；凹面：25mm；zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm；溫度補(bǔ)償范圍:0-60℃；顯示:LCD液晶(帶背光)；探頭:紅寶石固定式；電源：2×1.5V干電池；尺寸：100×60×27mm；重量：110g

   通過(guò)與工藝，行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作，已經(jīng)創(chuàng)建了一個(gè)模塊化涂層厚度計(jì)，將各種經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的QNix量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個(gè)設(shè)備中。模塊化測(cè)量系統(tǒng)是一種特別小巧便利的涂層厚度計(jì)，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長(zhǎng)電纜。模塊化測(cè)量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動(dòng)性，高測(cè)量精度，易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 是一種特別小巧便利的測(cè)量?jī)x，用于對(duì)所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測(cè)量。可以通過(guò)直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長(zhǎng)電纜上使用。

QNix 4500便攜式膜厚儀

儀器使用：

1.開(kāi)機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí)，儀器將 自動(dòng)開(kāi)機(jī)。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起，離開(kāi)被測(cè)物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測(cè)量。）
2.設(shè)置： 開(kāi)機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix®4500 為 4 個(gè)選項(xiàng)，QNix®4500 為 2 個(gè)選 項(xiàng)，見(jiàn)下圖：
選擇基體 選擇基體 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe"為磁性金屬基體模式， “NFe"為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500）， “Fe/NFe"為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅 QNix®4500）， “取平均值"為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）。
按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe"選項(xiàng)上停留 2 秒后，儀器顯示如下：
Fe 測(cè)量模式
這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別）模式下工作。
進(jìn)入“取平均值"選項(xiàng)后，儀器顯示如下
取平均值 關(guān) 開(kāi)
在“開(kāi)"選項(xiàng)上停留 2 秒后，取平均值開(kāi)啟，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀
數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“
— X "符號(hào)時(shí)表示取平
均值開(kāi)啟，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)"）即可。

3.測(cè)量： （1）調(diào)零： 儀器在測(cè)量前，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零，因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上， 不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開(kāi)，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭"、 “零位參照，拿起探頭"或聽(tīng)到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽(tīng)到響 聲后，液晶顯示 0，調(diào)零完畢。
注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是的零位， 這是正?，F(xiàn)象。
（2）測(cè)量 將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

4.分體型說(shuō)明： QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設(shè) 計(jì)，測(cè)量方便、穩(wěn)定、準(zhǔn)確，探頭連接線堅(jiān)固耐用，還可滿足一些狹小空間的測(cè) 量。探頭線和探頭可更換。