LAP-NM10000納米激光粒度儀
LAP-NM10000是我公司新推出的基于動(dòng)態(tài)光散射原理的納米粒度儀。它采用高速數(shù)字相關(guān)器和專業(yè)的高性能光電倍增管作為核心器件,具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)定的產(chǎn)品。
光子相關(guān)納米粒度儀基本原理圖
主要性能特點(diǎn):
*的測(cè)試原理:本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快,大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,激光照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理*、精度*的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性;是納米激顆粒粒度測(cè)定的儀器。
高靈敏度與信噪比:本儀器的探測(cè)器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管(PMT),對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比,從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度;
*的分辨能力和*的運(yùn)算功能:使用PCS技術(shù)測(cè)定納米級(jí)顆粒大小,必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用集成電路ASIC研制的高速光子相關(guān)器,具有識(shí)別6ns的*分辨能力和*的信號(hào)處理速度,可快速實(shí)時(shí)的采集光子數(shù)并計(jì)算相關(guān)運(yùn)算,我測(cè)試尊確定奠定基礎(chǔ)。
穩(wěn)定的光路系統(tǒng):采用短波長(zhǎng)LD泵浦激光光源和光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng),使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小,而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力,從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。
高精度溫控系統(tǒng):樣品池溫控系統(tǒng)和激光器溫控系統(tǒng)精度高達(dá)±0.1℃,使被測(cè)樣品和激光器光源在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中都處于恒溫狀態(tài),避免溫度變化對(duì)不測(cè)試結(jié)果的影響,確保測(cè)試準(zhǔn)確和重復(fù);
*功能的分析軟件:分析軟件中反演算法采用標(biāo)準(zhǔn)推薦的累計(jì)量法以及目前比較通用的非負(fù)二乘法(NNLS)和Contin等多種算法,其測(cè)試結(jié)果與同類產(chǎn)品具有很好的一致性;
測(cè)試穩(wěn)定:高性能的硬件和標(biāo)準(zhǔn)化的反演算法的完美結(jié)合,造就了LAP-NM10000測(cè)試結(jié)果的重復(fù),其測(cè)試準(zhǔn)確度和重復(fù)性等指標(biāo)均高于標(biāo)準(zhǔn)要求。
此款納米粒度儀已經(jīng)達(dá)到國(guó)外納米粒度儀的測(cè)試水平!
(測(cè)試界面圖)
LAP-NM10000光相關(guān)納米粒度儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置
規(guī)格型號(hào) | LAP-NM10000 |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 |
測(cè)試范圍 | 1-10000nm(與樣品有關(guān)) |
濃度范圍 | 0.1mg/L-100mg/L |
準(zhǔn)確度誤差 | <1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑) |
重復(fù)性誤差 | <1%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑) |
激光 | λ=532nm,LD泵浦激光器(*帶溫控保護(hù)) |
探測(cè)器 | HAMAMATSU光電倍增管(PMT),使用單模保偏光纖 |
散射角 | 90° |
數(shù)字相關(guān)器 | ASIC研制的高速光子相關(guān)器 |
樣品池 | 10mm*10mm , 4ml(帶溫控保護(hù)) |
數(shù)據(jù)處理 | 優(yōu)擬合累積分析法和改進(jìn)正規(guī)化算法,可給出平均粒徑及粒度分布曲線 |
軟件功能 | 一鍵式測(cè)量,自動(dòng)優(yōu)化測(cè)量參數(shù),輕松生成測(cè)試報(bào)表 |
輸出項(xiàng)目 | 平均粒徑、多分散系數(shù)、粒度分布曲線、粒度分布表等 |
溫度范圍 | 8-45℃(溫度確定到0.1℃) |
測(cè)試速度 | <1Min/次(不含樣品分散時(shí)間) |
儀器體積 | 390mm×255mm×240mm |
電源 | AC100~260V, 50/60Hz, 大功率80W |
使用環(huán)境 | 溫度:15~40℃,濕度20~70%。無(wú)冷凝 |
測(cè)試報(bào)告: