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LAP-D2000干法激光粒度儀
LAP-D2000大量程干法激光粒度分析儀主要性能特點：
*的光路設(shè)計:
LAP-D2000采用會聚光傅立葉變換測試技術(shù)保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測試能力。*的自動對中系統(tǒng)及電腦操作系統(tǒng)彰顯出LAP-D2000人性化設(shè)計。
高穩(wěn)定光路優(yōu)化：
*的設(shè)計讓LAP-D2000擁有了*的高穩(wěn)定光路，它采用了高穩(wěn)定、長壽命的進口大功率光纖輸出激光器，優(yōu)良的單色性讓LAP-D2000有了*的穩(wěn)定性；主要光路采取了全封閉設(shè)計，保證了儀器在復(fù)雜環(huán)境長時間測試；高密度旋轉(zhuǎn)式探頭分布保證了LAP-D2000*的全量程無縫測試；
*的干法分散系統(tǒng)：
LAP-D2000分散系統(tǒng)在法國理論數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進行了優(yōu)化設(shè)計，使LAP-D2000對干粉的分散更加均勻，*的負壓保證了進料的連續(xù)性及均勻性，有效避免測試過程中干粉的相互粘連。
大量程干法激光粒度分析儀探測器：
LAP-D2000探測器采用了主探測器與副探測器相結(jié)合的全新設(shè)計，保證了儀器全量程內(nèi)無縫探測，使測試更加準確。主探測器設(shè)計了自動對中系統(tǒng)，可實現(xiàn)儀器的一鍵自動對中，彰顯人性化設(shè)計。同時有效避免手動對中對探測器的損害，有效延長了儀器的使用壽命。
防塵、防震設(shè)計：
儀器整體進行了密封設(shè)計，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結(jié)果測試更穩(wěn)定可靠。
光路自動校對：
光路微變，儀器可以自行對光路進行調(diào)節(jié)。
管道無殘留：
測試完成后管道內(nèi)無殘留樣品，不會對下次測試造成干擾。
計算機控制喂料：
測試人員可借助計算機控制儀器進料量。
主要技術(shù)參數(shù)：
LAP-D2000技術(shù)參數(shù) | ||
規(guī)格型號 | LAP-D2000 | |
執(zhí)行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
測試范圍 | 0.1μm -2000μm | |
探測器通道數(shù) | 76 | |
準確性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
重復(fù)性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
喂料方式 | 高精度振動喂料方式，保證測試過程中下料均勻 | |
誤操作保護 | 儀器具備誤操作自我保護功能，儀器對誤操作不響應(yīng) | |
激光器參數(shù) | 進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW | |
分散方法 | 高壓空氣紊流分散 | |
軟件功能 | 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對數(shù)正態(tài)分布、按目分級統(tǒng)計模式等，滿足不同行業(yè)對被測樣品粒度統(tǒng)計方式的不同要求 |
統(tǒng)計方式 | 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的不同統(tǒng)計方式 | |
統(tǒng)計比較 | 可針對多條測試結(jié)果進行統(tǒng)計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結(jié)果的差異，對工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強的實際意義 | |
自行DIY顯示模板 | 用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對粒度測試的表征方式。徑距、*性、區(qū)間累積等等 | |
測試報告 | 測試報告可導(dǎo)出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結(jié)果 | |
多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。 | |
智能操作模式 | 真正全自動無人干預(yù)操作，無人為因素干擾，您只需按提示加入待測樣品即可，測試結(jié)果的重復(fù)性更好。 | |
操作模式 | 電腦操作 | |
測試速度 | <1min/次（不含樣品分散時間） | |
體積 | 980mm*410mm*450mm | |
重量 | 35Kg | |
