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手持式PCB孔銅膜厚儀INTRO Intromet ITM-525
電渦流法線路板孔銅壁厚測(cè)量?jī)xIntromet ITM-525
PCB Through Hole Copper Thickness Gauge INTROMET ITM-525
品牌:Intro
產(chǎn)品用途:孔銅壁厚測(cè)量,覆銅板銅箔厚度測(cè)量
手持式ITM-525是在ITM-52基礎(chǔ)上的增強(qiáng)型號(hào),可快速,準(zhǔn)確,無損測(cè)量通孔銅厚及無蝕刻印刷電路板(PCB)銅箔厚度。ITM-525用于生產(chǎn)成本控制及保持高品質(zhì)的印刷線路板的生產(chǎn)。ITM-525可采用USB數(shù)據(jù)與電腦連接連接,而ITM-52則采用紅外連接。
產(chǎn)品介紹
介紹:
ITM-525系列是手持式 充電池供電的測(cè)厚儀。附有溫度補(bǔ)償功能的測(cè)量PCB穿孔內(nèi)鍍銅厚度之測(cè)厚儀,不受表面溫度影響,其所測(cè)出來的數(shù)據(jù)極為精確且穩(wěn)定性高。
它能於蝕刻前、后,測(cè)量PCB穿孔內(nèi)鍍層厚度。*的設(shè)計(jì)使其能夠*勝任對(duì)雙層或多層電路板的測(cè)量,甚至可以穿透錫 (Sn) 和錫/鉛 (Sn/Pb) 抗蝕層進(jìn)行測(cè)量。系列*的溫度補(bǔ)償特性使其適用於在電鍍過程中進(jìn)行厚度測(cè)量,進(jìn)而降低廢料、重工成本。
應(yīng)用:
渦電流式 (EP-20/25/30): 量測(cè)PCB孔銅蝕刻前或后鍍銅層厚度。
行業(yè):
PCB製造業(yè)及其採(cǎi)購(gòu)業(yè)
特色:
量測(cè)模式為渦電流式量測(cè)孔銅厚度, zui小可測(cè)孔徑達(dá)17.7mils (0.45mm: EP-20*選配)
自動(dòng)溫度補(bǔ)償,當(dāng)測(cè)試頭放入孔銅內(nèi),立即精確的感應(yīng)溫度,減少誤差
於錫或錫鉛上測(cè)量效果佳
明亮的LCD顯示
可設(shè)定高、低極限,方便辨別出是否超出所測(cè)量的范圍
可設(shè)定導(dǎo)電率,符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
操作簡(jiǎn)易、方便攜帶,可測(cè)量各種微小零件
測(cè)量單位mil及um
需標(biāo)準(zhǔn)片校正
擁有IR紅外線傳輸介面,可連接電腦作數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
規(guī)格:
量測(cè)范圍
孔銅 (渦電流式EP-20/25/30): 0.08~3.9mil (2~100um)
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ASTM B499 & B530,DIN50981,ISO2178,BS5411
ITM-525系列是手持式 充電池供電的測(cè)厚儀。附有溫度補(bǔ)償功能的測(cè)量PCB穿孔內(nèi)鍍銅厚度之測(cè)厚儀,不受表面溫度影響,其所測(cè)出來的數(shù)據(jù)極為精確且穩(wěn)定性高。
它能於蝕刻前、后,測(cè)量PCB穿孔內(nèi)鍍層厚度。*的設(shè)計(jì)使其能夠*勝任對(duì)雙層或多層電路板的測(cè)量,甚至可以穿透錫 (Sn) 和錫/鉛 (Sn/Pb) 抗蝕層進(jìn)行測(cè)量。系列*的溫度補(bǔ)償特性使其適用於在電鍍過程中進(jìn)行厚度測(cè)量,進(jìn)而降低廢料、重工成本。
應(yīng)用:
渦電流式 (EP-20/25/30): 量測(cè)PCB孔銅蝕刻前或后鍍銅層厚度。
行業(yè):
PCB製造業(yè)及其採(cǎi)購(gòu)業(yè)
特色:
量測(cè)模式為渦電流式量測(cè)孔銅厚度, zui小可測(cè)孔徑達(dá)17.7mils (0.45mm: EP-20*選配)
自動(dòng)溫度補(bǔ)償,當(dāng)測(cè)試頭放入孔銅內(nèi),立即精確的感應(yīng)溫度,減少誤差
於錫或錫鉛上測(cè)量效果佳
明亮的LCD顯示
可設(shè)定高、低極限,方便辨別出是否超出所測(cè)量的范圍
可設(shè)定導(dǎo)電率,符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
操作簡(jiǎn)易、方便攜帶,可測(cè)量各種微小零件
測(cè)量單位mil及um
需標(biāo)準(zhǔn)片校正
擁有IR紅外線傳輸介面,可連接電腦作數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
規(guī)格:
量測(cè)范圍
孔銅 (渦電流式EP-20/25/30): 0.08~3.9mil (2~100um)
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ASTM B499 & B530,DIN50981,ISO2178,BS5411
zui薄可測(cè)量板:1.0mm 40 mil
測(cè)量孔徑范圍:0.45mm(18 mil) -2.0mm(80 mil)
孔壁Cu厚度測(cè)量範(fàn)圍:2.5 - 100um 0.1 - 4 mil
孔徑測(cè)量範(fàn)圍:
EP-30探針:0.8 - 2.0mm 32 - 80 mil
EP-25探針:0.6 - 0.8mm 24 - 32 mil
EP-20探針:0.45 - 0.6 mm 18 - 24 mil