手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片

用于校準(zhǔn)手持式光譜儀，不管什么品牌什么型號均可使用。銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片用于建立和校準(zhǔn)銅上鍍鉍程式。

銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片

1. Bi/Cu，理論厚度：20微英寸（0.50微米）
2. Bi/Cu，理論厚度：50微英寸（1.25微米）
3. Bi/Cu，理論厚度：100微英寸（2.5微米）
4. Bi/Cu，理論厚度：150微英寸（3.75微米）
5. Bi/Cu，理論厚度：200微英寸（5.0微米）
6. Bi/Cu，理論厚度：250微英寸（6.25微米）
7. Bi/Cu，理論厚度：300微英寸（7.5微米）
8. Bi/Cu，理論厚度：400微英寸（10.0微米）

關(guān)于“理論厚度”：實(shí)際到貨值會在理論厚度的附近。原廠偏差控制在±15%范圍內(nèi)。

關(guān)于“底材”：常用為銅（Cu），如有其他底材要求或其他厚度要求，可聯(lián)系上海益朗儀器有限公司非標(biāo)定制。

由于箔片太脆弱而無法與手持式光譜儀一起使用，因此手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標(biāo)準(zhǔn)片以*的方式包裝，以便與手持式光譜儀一起使用。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)允許用戶在有或沒有視頻成像的情況下瞄準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，以便校準(zhǔn)便攜式XRF儀器的薄膜厚度和材料分析測試。適合用于以下品牌但不限于以下品牌：尼通、伊諾斯、奧林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪聲等。

單層手持式XRF產(chǎn)品摘要

這些標(biāo)準(zhǔn)包括一層通過濺射或電鍍方法沉積在特定基材上的高純度薄膜。它們可以用于校準(zhǔn)便攜式手持XRF設(shè)備，以測量在基材上具有一層與標(biāo)準(zhǔn)涂層和基材相同的元素組成的涂膜的樣品。這些標(biāo)準(zhǔn)是堅(jiān)固的，不易彎曲的材料，安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上，以方便手持XRF儀器的定位和校準(zhǔn)。

注意：
1.對于小于等于1微米（40μin）的厚度，交貨標(biāo)準(zhǔn)的允許厚度偏差為±10％。 
2.如果厚度> 1微米（40μin），則所交付標(biāo)準(zhǔn)的允許層厚度偏差為±15％。 
3.均勻度：5％。 
4.認(rèn)證厚度不確定度（95％置信區(qū)間）±5％。 

定義：
一。均勻度的定義是：（大厚度–小厚度）/平均
    表示為百分比，其中可以在標(biāo)準(zhǔn)暴露表面的任何位置確定厚度。 
b。除非報(bào)價中另有說明，否則以上述規(guī)格為準(zhǔn)。 
C。“有庫存”表示交貨時間為下訂單后1-2周。