ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能顯著提高。

 ED400渦流測(cè)厚儀適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

 ED400渦流測(cè)厚儀適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
  儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

ED400渦流測(cè)厚儀儀器特點(diǎn)：

ED400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：

量程寬： ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0～500 μm。

精度高： 測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率高：分辨率達(dá)到0.1 μm。
校正簡(jiǎn)便 ：只校正“0"和“50 μm"兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
基體導(dǎo)電率影響小：基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2 μm。
可靠性提高：采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
穩(wěn)定性提高：采用良好的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。

探頭芯壽命長(zhǎng)：采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。

 ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：