產(chǎn)品簡(jiǎn)介
測(cè)量線(xiàn)路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
電鍍表面處理的多樣品和多點(diǎn)分析
單層或多層厚度測(cè)量
鍍液成份分析
黃金分析及其他元素測(cè)定
貴金屬合金檢測(cè)
詳細(xì)介紹
利用X射線(xiàn)熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析,提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
X-Strata鍍層測(cè)厚儀是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線(xiàn)熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列提供:
- 無(wú)損分析:無(wú)需樣品制備
- 經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性,確保每年都帶來(lái)收益
- 操作簡(jiǎn)單,只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
- 分析只需三步驟
- 杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
- 在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有超過(guò)20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線(xiàn)熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量,保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。
電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過(guò)程,提高生產(chǎn)力
- 分析電子件上的金和鈀的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
- 測(cè)量線(xiàn)路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
五金電鍍行業(yè) - 電鍍表面處理的成本zui小化,產(chǎn)量zui大化
- 多樣品和多點(diǎn)分析
- 單層或多層厚度測(cè)量
- 鍍液成份分析
貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無(wú)損分析
- 黃金分析及其他元素測(cè)定
- 貴金屬合金檢測(cè)
*性檢測(cè) - 確保產(chǎn)品符合規(guī)格
- 測(cè)定有害物質(zhì)從ppm級(jí)到高百分比級(jí)
- 有毒元素定量分析,例如檢測(cè)鎘、汞、鉛等含量是否符合規(guī)定
X-Strata920 - 三種配置滿(mǎn)足您的需要:
固定樣品臺(tái)
- 開(kāi)槽式樣品艙允許檢測(cè)從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線(xiàn)路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
- 經(jīng)濟(jì)、實(shí)用
- 平面樣品臺(tái)設(shè)計(jì),適合高度不超過(guò)1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺(tái)
- 高度每英寸(25.4mm)可調(diào),架構(gòu)式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
- 可以選4個(gè)樣品盤(pán)中任一個(gè)來(lái)盛放不同高度的樣品
- 開(kāi)槽式樣品艙允許檢測(cè)從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線(xiàn)路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺(tái)
- 用于自動(dòng)化測(cè)量
- 方便根據(jù)測(cè)試位置放置樣品,并精準(zhǔn)定位測(cè)量點(diǎn)
- 開(kāi)槽式樣品艙允許檢測(cè)大型平板樣品,如印制線(xiàn)路板
- 樣品臺(tái)尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬)