覆層測厚儀參數(shù)：
★測頭類型：F。
★測量原理：磁感應。
★測量范圍：0-1250um。
★低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
★探頭連接方式：一體化。
★示值誤差：一點校準（um）±[3%H 1]。
★兩點校準（um）： ±[（1～3）%H 1]。
★測量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
★基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。
★zui小臨界厚度（mm）：0.5。
★溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
★統(tǒng)計功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、
標準偏差（S．DEV）。
★工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
★測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設置。
★存儲能力：15 個測量值。
★打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦。
★關機方式：自動。
★電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
★外形尺寸：150×55.5×23mm。
★重量：150g。
★基本配置：主機。
★標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
★鐵基體。
★充電器。
★可選附件。
★TA230打印機。

一切以客戶為中心，為客戶提供優(yōu)質、全面、快捷的服務，保證客戶滿意。在接到質量信息反饋時，我們將快速處理意見，待正常運轉后，再分析原因，明確責任。覆層測厚儀產品三包期為正式交貨之日起一年，對非人為造成的各類零件損壞，及時免費更換。上海魅宇為產品提供必要的技術文件和產品出廠合格證書等相關文件。

相關產品透明度計

優(yōu)點：
★測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
★精度高 ：本公司產品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上*能達到*的產品,其精度遠高于時代等國內同類.比EPK等進口產品精度也高；
★穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產品；
★功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文；

簡介：
是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。

功能特點：
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

按上所述，我們認為較為理想，數(shù)據(jù)較為穩(wěn)定，價格低且操作方便。