北京慧龍環(huán)科環(huán)境儀器有限公司
主營產(chǎn)品: 奧立龍水質(zhì)分析儀,WTW水質(zhì)分析儀 |
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參考價 | 面議 |
- 型號 LS 13 320 XR
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 所在地 北京市
更新時間:2022-11-21 20:30:15瀏覽次數(shù):1855
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貝克曼庫爾特新一代 LS 13 320 XR,是一款全自動、高分辨率、高準(zhǔn)確性、高重現(xiàn)性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀,它將激光衍射粒度分析儀提升到了一個更高的水平。
升級版 PIDS 技術(shù)(發(fā)明號:4953978,5104221)真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測量,優(yōu)化的132枚檢測器保證了儀器分辨率
干法樣品臺采用龍卷風(fēng)分散技術(shù)(發(fā)明:US00645414B-1)。整個系統(tǒng)不僅*粒度表征的需求,可以測量粒徑范圍更寬的顆粒(10nm-3500um),而且高分辨率+特色樣品臺,不論樣品是單峰、雙峰還是多峰,不論納米、微米還是納微米,均可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異,實(shí)現(xiàn)高分辨率的檢測。
132 枚檢測器,超高分辨率,準(zhǔn)確測量細(xì)微差異
X-D陣列檢測器 - 確保微米顆粒高分辨率的準(zhǔn)確測量
特殊設(shè)計(jì)X型對數(shù)排布檢測器陣列,可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號,獲得真實(shí)準(zhǔn)確的粒度分布
132枚檢測器能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強(qiáng)譜圖差異,快速、準(zhǔn)確的提供真實(shí)粒度分布
優(yōu)化的檢測器信噪比,大大提高了檢測到散射光強(qiáng)譜圖細(xì)微變化的能力
PIDS技術(shù):偏振光強(qiáng)度差散射 - 真正實(shí)現(xiàn)納米顆粒測量
傳統(tǒng)方法測量亞微米顆粒依靠背散射光,其散射光強(qiáng)譜圖在形狀和強(qiáng)度上都非常相似,區(qū)分比較困難,因此由于分辨率低而造成不準(zhǔn)確的粒度測量。
亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖,而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。
PIDS技術(shù)采用了3種不同波長的光順次照射樣品,首先為垂直偏振,然后為水平偏振,通過分析每個波長的水平和垂直輻射光之間的差異,便可獲得亞微米樣品準(zhǔn)確的粒度分布信息
升級版PIDS技術(shù)從光源到濾波器再到檢測器都進(jìn)行了全面的升級,使得測量亞微米顆粒的動態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。
ADAPT多峰樣品自動檢測,更放心
憑借業(yè)界出眾的技術(shù),無需預(yù)估樣品峰型(比如多峰、窄分布),無需選擇分析模型,輕松準(zhǔn)確分析多峰樣品,讓您對測試結(jié)果更放心
準(zhǔn)確性誤差優(yōu)于±0.5%
重復(fù)性誤差優(yōu)于0.5%
數(shù)據(jù)完整性及合規(guī)性
LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗(yàn)證程序,可滿足安裝驗(yàn)證(IQ)和運(yùn)行驗(yàn)證(OQ)所需。
簡單、直觀的操作軟件
從開始測量到獲得結(jié)果僅需 2 次點(diǎn)擊
包含集成的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫
隨時向您通報(bào)有用的用戶診斷報(bào)告
精簡的工作流不僅易于使用,更節(jié)省時間
應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于土壤、沉積物、面粉、淀粉、奶粉、食品添加劑、飲料、黏合劑、合金、金屬粉末、硅微粉、3D打印、涂料、顏料、藥物、礦物、紙、化妝品、煤粉、鋰離子電池材料、建材紡織、甚至生物顆粒等應(yīng)用領(lǐng)域
擅長樣品類型:
寬分布樣品
極限顆粒(納米、>1000微米)
多峰樣品
數(shù)量微小變化