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6400 和 6405 型專設(shè)來滿足用戶對(duì)常規(guī)和特定紫外 / 可見光分光光譜的高效測(cè)試。 6400 系列掃描裝置適用于常規(guī)教學(xué)、實(shí)驗(yàn)室和研究場(chǎng)合。
6400 型可見分光光度計(jì)運(yùn)行范圍為 320-1100nm ； 6405 型紫外 / 可見分光光度計(jì)的運(yùn)行范圍為 190-1100nm 。
兩種型號(hào)均有五種運(yùn)行模式：測(cè)光，光譜， kinetics （ 動(dòng)力學(xué) ） ，多波長(zhǎng)和定量 * 。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品概述：
6400 和 6405 型專設(shè)來滿足用戶對(duì)常規(guī)和特定紫外 / 可見光分光光譜的高效測(cè)試。 6400 系列掃描裝置適用于常規(guī)教學(xué)、實(shí)驗(yàn)室和研究場(chǎng)合。
6400 型可見分光光度計(jì)運(yùn)行范圍為 320-1100nm ； 6405 型紫外 / 可見分光光度計(jì)的運(yùn)行范圍為 190-1100nm 。
兩種型號(hào)均有五種運(yùn)行模式：測(cè)光，光譜， kinetics （ 動(dòng)力學(xué) ） ，多波長(zhǎng)和定量 * 。
非線性結(jié)果可使用功能強(qiáng)大的內(nèi)置式軟件和多位比色皿變換器來測(cè)試?？勺詣?dòng)確定多達(dá)七個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，并使用這些數(shù)據(jù)點(diǎn)來創(chuàng)建曲線。多種統(tǒng)計(jì)方法的應(yīng)用可保證所有曲線形態(tài)的密切相關(guān)性。
加樣的靈活性是一大優(yōu)點(diǎn) , 從 100mm 光程的比色皿架到微型樣品比色皿均可適用。提供各種附件，可工廠裝配或用戶安裝。
菜單式的操作方法指導(dǎo)用戶選擇所有可用的模式，并保證不熟悉的操作者也可滿意操作。多種語言功能，包括英語、法語、德語、意大利、葡萄牙語或西班牙語。
技術(shù)參數(shù)：
| 光學(xué)系統(tǒng) | Single beam |
| 波長(zhǎng)范圍 | 320-1100nm（6400） / 190-1100nm （6405） |
| 分辨率 | 0.1nm |
| 精度 | ±1.0nm |
| 帶寬 | 5nm |
| 透光度 | 0 to 199.9%T |
| 分辨率 | 0.1%T |
| 精度 | ±1%T@10%T |
| 雜光 | <0.05%T@340 & 220nm |
| 吸光度 | -0.300 to |
| 分辨率 | |
| 精度 | |
| 濃度 | -300 to 9999Conc （resolution dependent） |
| 分辨率 | 0.001 / 0.01 / 0.1 / 1 |
| 單位 | ppb, ppm, µg/l, mg/l, M, %, blank |
| 系數(shù) | 0.000 to 9999.99 |
| 燈光轉(zhuǎn)換 | 320-390nm |
| 測(cè)光噪聲值 | < |
| 測(cè)光穩(wěn)定性 | < |
| 顯示 | Custom graphics LCD |
| 輸出 | Analogue / RS232 serial port |
| 光源 | Tungsten halogen （ |
| 輸入電壓 | 115/230V a.c. -20% +10% 50/60Hz |
| 輸入功率 | 200VA |
| 尺寸 | 520（w） x 330（d） x 180（h） mm |
| 重量 | |