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所以通過(guò)沙塵試驗(yàn)箱就能夠模擬各種沙塵侵入的場(chǎng)景,通過(guò)對(duì)電子芯片進(jìn)行沙塵試驗(yàn),可以很好的找到電子芯片的設(shè)計(jì)防護(hù)缺陷。
電子芯片的防塵測(cè)試主要研究不同顆粒大小的沙塵粒對(duì)電子芯片造成的影響。試驗(yàn)的目的一是檢測(cè)電子產(chǎn)品的外殼對(duì)內(nèi)部芯片及其他元件的防護(hù)情況,二是想要了解粉塵侵入對(duì)芯片的影響,以及是否會(huì)發(fā)生短路起火的現(xiàn)象。通過(guò)沙塵試驗(yàn)箱來(lái)制造不同溫度、濕度的環(huán)境,并使用不同的沙塵濃度來(lái)對(duì)電子芯片進(jìn)行測(cè)試。
在對(duì)電子芯片進(jìn)行防塵測(cè)試時(shí),一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的粉塵作為試驗(yàn)源。電子芯片要求的防塵等級(jí)一般在IP5或者IP6,旨在 防護(hù)粉塵的進(jìn)入,或者粉塵進(jìn)入以后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般對(duì)于電子芯片的防塵測(cè)試,都是以IP6 高等級(jí)的防護(hù)來(lái)進(jìn)行的,因?yàn)樯硥m堆積過(guò)多,會(huì)造成電子芯片的損害,所以 絕塵才是 好的防護(hù)方式。
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