高低溫沖擊試驗(yàn)箱的應(yīng)用領(lǐng)域、特點(diǎn)及試驗(yàn)?zāi)康?/h1>

時(shí)間：2022/9/9閱讀：792

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   高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的 一項(xiàng)測(cè)試箱。
 
        高低溫沖擊試驗(yàn)箱分為高溫箱，低溫箱，測(cè)試箱三部分，采  之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷，熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。采用采用 先 進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話(huà)式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單，學(xué)習(xí)容易，穩(wěn)定可靠。中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線(xiàn)。具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定，沖擊時(shí)間999h59min。     可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高。
 
        高低溫沖擊試驗(yàn)箱可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)(手動(dòng))除霜。出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測(cè)控制，風(fēng)門(mén)機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10s內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。每個(gè)產(chǎn)品都根據(jù)客戶(hù)的要求訂做，保證了設(shè)備的高效節(jié)能，并在現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試和驗(yàn)收，保證用戶(hù)方的使用性能。運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線(xiàn)顯示,發(fā)生異常狀況時(shí)，螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置 。
 
一、試驗(yàn)?zāi)康?/strong>
 
  確定設(shè)備(產(chǎn)品)在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘯r(shí)的適應(yīng)性。
 
 二、試驗(yàn)條件
 
1、試驗(yàn)溫度：高溫為70℃;低溫為-55℃。   2、試驗(yàn)溫度保持時(shí)間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn)。   3、轉(zhuǎn)換時(shí)間：＜5min。   4、循環(huán)次數(shù)：3次。
 
 三、對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求
 
本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)或采用高溫試驗(yàn)箱(室)和低溫試驗(yàn)箱(室)進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)，以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周?chē)諝鉁囟燃眲“l(fā)生變化的環(huán)境溫度。  
 
 1、高溫試驗(yàn)箱(室)的要求，應(yīng)符合GJB150.3-86《 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
 
 2、低溫試驗(yàn)箱(室)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
 
 3、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分，應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
 
 4、試驗(yàn)箱(室)的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過(guò)試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。

四、恢復(fù)試驗(yàn)樣品
        從試驗(yàn)箱(室)內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途：
 
  高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于科研、學(xué)校、工廠等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線(xiàn)路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。
 
高低溫沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
 
高低溫沖擊試驗(yàn)箱符合GJB150.3 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-高溫試驗(yàn)、GJB150.4 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-低溫試驗(yàn)、GJB150.5 環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn)、GB/T2423.1低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法、GB10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

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