隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對(duì)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)和必要的著火危險(xiǎn)試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所*的重要環(huán)節(jié)。出廠前對(duì)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、各項(xiàng)著火危險(xiǎn)試驗(yàn)是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來我國(guó)制修訂了很多這方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編，受到讀者歡迎。
　　截至目前為止，該方面國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)147項(xiàng)，其中2005年以來新制修訂的電工電子環(huán)境試驗(yàn)、著火危險(xiǎn)試驗(yàn)及特殊環(huán)境條件方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共有59項(xiàng)，并廢止17項(xiàng)（不包括代替）。這些標(biāo)準(zhǔn)受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、運(yùn)輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理，分5冊(cè)陸續(xù)出版：
　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第四版）
　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）
　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）
　　電工電子產(chǎn)品著火危險(xiǎn)試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第二版）
　　電工電子產(chǎn)品特殊環(huán)境條件國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編（*版）
　　本冊(cè)為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編（第三版）》，
　　共匯集了截至2007年6月底我國(guó)正式發(fā)布實(shí)施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)15項(xiàng)及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗(yàn)設(shè)備的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)8項(xiàng)，共計(jì)23項(xiàng)。
　　本匯編收集的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（目錄中標(biāo)明GB／T），標(biāo)準(zhǔn)年號(hào)用四位數(shù)字表示。鑒于部分國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)是在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣；讀者在使用這些國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，其屬性以本目錄標(biāo)明的為準(zhǔn)（標(biāo)準(zhǔn)正文“引用標(biāo)準(zhǔn)”中的標(biāo)準(zhǔn)的屬性請(qǐng)讀者注意查對(duì)）。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動(dòng)。
[編輯本段]目錄
　　環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
　　GB／T5170．1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
　　GB／T5170．2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．8—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
　　GB／T5170．14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)眼動(dòng)臺(tái)
　　GB／T5170．15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
　　GB／T5170．16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
　　GB／T5170．17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170．20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
　　環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T10586—2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T10587—2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T10588—2006長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T10590—2006高低溫／低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T10591—2006高溫／低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件一
　　GB／T10592—1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件