專業(yè)金屬鍍層測厚儀膜厚儀CMI243是無損鍍層厚度專業(yè)測試儀，旨在精確測量以下鍍層為金屬的電渦流探頭：鋅（Zn） ，鎳（Ni），銅（Cu），鉻（CR），或鎘（Cd）。本機使用磁感應探頭來測量鋼上非磁性鍍層。有深圳市方源儀器有限公司總代理策劃銷售，可批發(fā)供應，詳情請！

專業(yè)金屬鍍層測厚儀膜厚儀CMI243

 

儀器簡介：

專業(yè)金屬鍍層測厚儀膜厚儀CMI243是無損鍍層厚度專業(yè)測試儀，旨在精確測量以下鍍層為金屬的電渦流探頭：鋅(Zn) ，鎳(Ni)，銅(Cu)，鉻(CR)，或鎘(Cd)。本機使用磁感應探頭來測量鋼上非磁性鍍層。有深圳市方源儀器有限公司總代理策劃銷售，可批發(fā)供應，詳情請！

 

基本配置包括:

CMI243主機一臺

ECP-M探頭一支

使用指南一份

校準用鐵上鍍鋅標準片組一副

產品質量檢測合格證書（英國）

產品儀器出廠證

可單獨選購SMTP-1(磁感應探頭)

 

 

 

測試原理：

一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的”升離效應“導致的底材效應，和由于測試件形狀和結構導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。而牛津儀器將的基于相位的電渦流技術應用到CM1243，使其達到了士1%以內(對比標準片)的準確度和0.3%以內的精確度。牛津儀器對電渦流技術的*應用，將底材效應zui小化使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。另外，儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準。

 

操作范圍   

鐵上鍍層        鍍層厚度范圍             探頭   

Zn            0.1-1.5mi1 (38um)         ECP-M

Cd            0.1-1.5mi1 (38um)         ECP-M

Cr            0.1-1.5mi1 (38um)         ECP-M

Cu            0.1-0.40mi1 (10um)        ECP-M

Non-Mag/Fe    0.1-50mi1 (1270um)        SMP-1

精確度:0.3%

準確度:相對標準片士1%

分辨率:0.01mils (0.1u m)

電渦流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3,ISO 2360, ISO 21968草案，ASTM B499，及ASTM E376

存儲量:26,500條存儲讀數

尺寸:5 7/8"(長)x 3 1/8"(寬)x 1 3/16"高)(14.9x7.94x3.02cm)

重量:9 oz (0.26 kg)包括電池

單位:通過一個按鍵實現英制和公制的自動轉換

顯示屏:三位數LCD液晶顯示，字體1/2英寸(1.27厘米)高

電池:9伏堿性電池

電池壽命:65小時連續(xù)使用(周)

 

中國代理商：深圳市方源儀器有限公司
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