NanoMap-1000WLI 三維表面輪廓儀、三維輪廓儀、白光干涉輪廓儀、臺(tái)階儀
- 公司名稱 aep technology中國辦事處
- 品牌
- 型號(hào) NanoMap-1000WLI
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2015/8/12 21:14:45
- 訪問次數(shù) 1084
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三維形貌儀、三維輪廓儀、形貌儀、輪廓儀、粗糙度儀、輪廓度儀、臺(tái)階儀、平面度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式形貌儀、白光干涉形貌儀、白光干涉輪廓儀、白光干涉臺(tái)階儀、白光干涉粗糙度儀、激光共焦式臺(tái)階儀、激光共焦式粗糙度儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式粗糙度儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式粗糙度儀、激光雷達(dá)、膜厚測(cè)量儀、光線陀螺、慣導(dǎo)傳感器,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),劃痕儀,納米壓痕儀,納米劃痕儀,微米劃痕儀
非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像、大的掃描范圍,可定制的波長范范圍,使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌。提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計(jì)算、曲率計(jì)算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析?;诟盗⑷~變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測(cè)量的地區(qū)差異繪圖。
光學(xué)輪廓儀參數(shù)性能
參數(shù)性能追尋持續(xù)改進(jìn)的目標(biāo)
AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù)。 欲了解的配置和性能,請(qǐng)與我們。
垂直分辨率 0.1nm,0.02nm
搭載多鏡頭 zui多可同時(shí)搭載6枚物鏡
平臺(tái)范圍 150毫米x 150毫米(可選200毫米或更大)
物鏡倍數(shù) 0.5倍到100倍
Z軸聚焦范圍 0.1納米至
傾斜角度 + / - 10度
手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)范圍 360度
像素標(biāo)準(zhǔn) 1024×1024,可選的1536 x 1536或1920×1920
高清圖像
2維、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像。利用所提供的軟件,通過設(shè)置一些選項(xiàng)、可以得到客戶需求的的曲線、標(biāo)繪、視圖(例如直方圖及雷達(dá)圖等)
成像光源
長壽命強(qiáng)光LED,用戶可自選波長范圍
白光干涉儀對(duì)其光源承諾*的十年質(zhì)保。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到*(高亮度的LED使反射率從小于0.4%到*的樣品均可清晰成像。)白光干涉光源承諾十年質(zhì)保。
白光干涉儀也允許客戶改變可用波長掃描各種樣品。