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Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>
- 品牌 Freiberg Instruments
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/10/29 11:45:54
- 訪問次數(shù) 70
Omega/Theta - 搖擺曲線測量儀弗萊貝格晶錠粘接轉(zhuǎn)移(堆垛 stacking)系統(tǒng)Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀
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非甲烷總烴在線監(jiān)測儀,有機揮發(fā)物氣體監(jiān)測儀,沼氣檢測儀,大氣環(huán)境在線檢測儀,空氣質(zhì)量指數(shù)檢測儀器,大氣氣象綜合分析系統(tǒng),林業(yè)大氣環(huán)境檢測儀,交通環(huán)境大氣污染檢測,惡臭工作站
價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀
產(chǎn)品特點
Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定義的網(wǎng)格進行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小,小的網(wǎng)格間距約為1毫米。
詳細介紹
產(chǎn)品介紹:
自動Mapping面掃功能
Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定義的網(wǎng)格進行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小,小的網(wǎng)格間距約為1毫米。
繪圖階段可以與Omega掃描結(jié)合起來,以獲得晶體方向圖,或與搖擺曲線測量結(jié)合起來,以獲得表面的扭曲圖??商峁┯糜陲@示和分析的軟件包。
晶體的Mapping面掃功能是診斷晶體生長過程中和制造過程中出現(xiàn)的質(zhì)量問題的一個寶貴工具
即使在單晶中,晶體取向也可以在表面上表現(xiàn)出微小的變化,這是由晶格缺陷引起的內(nèi)部應(yīng)變造成的。有序生長的薄膜也可以有一個有趣的面內(nèi)取向分布。
繪制一個表面需要大量的測量。在這里,歐米茄掃描方法可以提供其速度方面的優(yōu)勢。圖中顯示的是在一個(Si,Ge)固溶體晶片上測量的取向圖。較大的方向差是0.03°。同心圓是按照晶體的生長環(huán)進行的。