簡單明了的納米壓痕測(cè)試

使用 Anton Paar 直觀的軟件，可以輕松定義和分析各種儀器壓痕測(cè)試（從標(biāo)準(zhǔn)方法到高級(jí)方法）。集成顯微鏡提供非常大的放大倍數(shù)，讓您能觀察到樣品表面，從而直接確定測(cè)量位置。而且，參比環(huán)還可全面保護(hù)壓頭不受碰撞，并且不到 2 分鐘即可更換測(cè)量針尖。

高準(zhǔn)確度，測(cè)量時(shí)間短

該儀器的設(shè)計(jì)，頂部集成了表面參比環(huán)，它在壓痕測(cè)量過程中可以追蹤樣品表面。這意味著，它始終根據(jù)當(dāng)前的表面位置來直接獲得壓入深度。Anton Paar 納米壓痕測(cè)試儀是少有的具備此功能的儀器，這意味著 NHT3 可提供準(zhǔn)確的結(jié)果和不易出錯(cuò)的軟件校正功能。這種技術(shù)的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是，在上樣后可以立即開始測(cè)試，而無需等待數(shù)小時(shí)以便其達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)。

快速點(diǎn)陣實(shí)現(xiàn)較高效率

使用快速測(cè)試模式，每小時(shí)可通過真實(shí)的壓痕曲線測(cè)試多達(dá) 600 個(gè)壓痕。借助參比式設(shè)計(jì)，無需等待達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)，讓您每天可以安裝和立即測(cè)量大量樣品。憑借用戶配置、測(cè)量模式、多樣品測(cè)量及可定制報(bào)告，NHT3 成為市面上通量最高的儀器。 

通過“正弦模式”進(jìn)行其他動(dòng)態(tài)力學(xué)分析 (DMA)

使用正弦模式，您可以執(zhí)行 DMA 分析來研究力學(xué)特性隨深度的變化情況（HIT、EIT 對(duì)比深度），并分析樣品的粘彈性（E'、E'：儲(chǔ)能和損耗模量、tan δ）。正弦動(dòng)態(tài)測(cè)量模式還提供其他功能，例如壓痕儀快速校正以及應(yīng)力/應(yīng)變分析。 

Step 平臺(tái)：充分發(fā)揮納米壓痕測(cè)試儀多功能性

需要使用單個(gè)測(cè)量頭進(jìn)行 QC 壓痕測(cè)試，還是需要使用多頭設(shè)置進(jìn)行完整的表面力學(xué)表征測(cè)試？Step 平臺(tái)能為專業(yè)實(shí)驗(yàn)室中使用的單一用途以及跨多個(gè)部門的共享儀器提供解決方案。

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