光學(xué)冷熱臺CH600S可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1600℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。

超高溫?zé)崤_可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特性。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~1600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。

超高溫?zé)崤_H1600

超高溫?zé)崤_H1600-1

半導(dǎo)體冷熱臺采用半導(dǎo)體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實(shí)現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑,具有無噪聲、無振動等特點(diǎn)?？梢詫?shí)現(xiàn)變溫光學(xué)測試，或者選配探針實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測試。

mini熱臺是一款針對樣品變溫測試而設(shè)計的產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸小巧，使用便捷，可進(jìn)行光學(xué)、電學(xué)測試。采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT ~200℃范圍內(nèi)控溫，與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配，進(jìn)行變溫原位測試。

探針冷熱臺可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1600℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬用表）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。

探針冷熱臺ECH600S

外部調(diào)節(jié)探針臺A

超高溫探針熱臺H1000

電控位移探針冷熱臺（納米級）

高低溫試驗(yàn)箱BCH180是一款針對樣品變溫測試的環(huán)境箱，同時滿足光學(xué)、電學(xué)等測試。通過向箱體內(nèi)通入低溫氮?dú)庵吕浜碗娂訜幔瑢?shí)現(xiàn)箱體內(nèi) -120 ~ 180℃ （選型）范圍內(nèi)控溫。與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配，進(jìn)行變溫原位測試。

原位拉伸冷熱臺采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。

原位拉伸冷熱臺FS500

SEM原位拉伸冷熱臺是一款在掃描電鏡下研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮，或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~200℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。

拉伸試驗(yàn)機(jī)冷熱臺一種安裝在萬能試驗(yàn)機(jī)上研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可選DIC、視頻引伸計實(shí)現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集。

拉伸機(jī)冷熱臺A

拉伸機(jī)冷熱臺B

XRD原位冷熱臺是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。XRD原位冷熱臺與各種X-射線衍射儀適配集成產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度范圍內(nèi)的氣氛/真空測試環(huán)境。支持在各種X-射線衍射儀（布魯克 、賽默飛 、理學(xué)等）上定制樣品架進(jìn)行適配。

XRD原位透射冷熱臺

XRD原位電池冷熱臺

SEM冷熱臺SCH200

原位電池冷熱臺針對電化學(xué)電池研究，設(shè)計的 多款原位測試裝置。 可實(shí)現(xiàn)原位XRD測試、光學(xué)測試等，同時可提供變溫環(huán)境（選配）

XRD原位鋰電冷熱臺

鋰電池原位變溫測試臺

光學(xué)原位觀測電池冷熱臺