SE-VE光譜橢偏儀03090803
- 公司名稱 北京鴻瑞正達科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/3/7 21:07:54
- 訪問次數(shù) 349
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SE-VE 光譜橢偏儀
產(chǎn)品簡介: SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計,使用簡便,可一鍵快速測量 表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案,緊湊集成化設(shè)計,用 戶操作體驗,一鍵快速測量分析,人機交互設(shè)計,使用便捷,豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強大 數(shù)據(jù)分析能力,廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。
產(chǎn)品型號 | SE-VE 光譜橢偏儀 |
主要特點 | 1、采用高性能進口復(fù)合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍(400-800nm) 2、高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制、 PCRSA 配置, 實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集 |
3、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料 | |
技術(shù)參數(shù) | 1、自動化程度:固定角 2、應(yīng)用定位:經(jīng)濟型 3、基本功能: Psi/Delta、N/C/S、R 等光譜 |
4、分析光譜: 400-800nm | |
5、單次測量時間: 0.5-5s | |
6、重復(fù)性測量精度: 0.05nm 7、光斑大?。?/span> 大光斑 1-3mm 8、入射角調(diào)節(jié)方式:固定角 |
9、入射角范圍: 65° | ||
10、找焦方式:手動找焦 11、Mapping 行程:不支持 12、支持樣件尺寸: 至 160mm | ||
可選配件 | 1 | 溫控臺 |
2 | 真空泵 | |
3 | 透射吸附組件 |