HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀(近紅外靈敏型)
- 公司名稱 KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/22 11:11:06
- 訪問次數 1282
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離心機,顯微鏡,磁力攪拌器,移液器,天平,混勻器,超聲波清洗機,冷水機,水分儀,里氏硬度計,工業(yè)內窺鏡,COD消解器,超聲波細胞破碎儀,激光光束分析儀,光源,積分球,光學系統(tǒng),光學棱鏡,光學透鏡,晶體光學,平面光學窗口和反射鏡基底等光學儀器和元件
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 濾光片型 |
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儀器種類 | 在線 | 應用領域 | 綜合 |
HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀(近紅外靈敏型)配置了濱松面陣背照式CCD傳感器,具有出色的信噪比(SNR)性能800: 1,非常適合于弱光譜測量的應用。該系列提供紫外靈敏型和紅外靈敏型兩個版本。
HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀(近紅外靈敏型),搭載了濱松S11510面陣背照式CCD,提升了700-1100nm范圍內的靈敏度,尤其在800nm-1100nm的波段,非常適合拉曼和其它近紅外弱光譜的測量。
HS-VIS-NIR-CL的探測器響應范圍為200-1100nm,用戶可以選擇不同的光柵配置,得到不同的光學分辨率和光譜響應范圍,以滿足不同的應用需求。支持二次開發(fā)、觸發(fā)控制, 另外針對其它波段350-1050nm/550-750nm/650-850nm等,可以提供OEM定制。
特點
結構緊湊,便于攜帶與系統(tǒng)集成
交叉非對稱C-T光路結構,有效抑制雜散光
提升了700-1100nm范圍內的靈敏度
高靈敏響應,實現弱光探測
多種狹縫、透鏡、光柵可選,搭配靈活
USB通信,即插即用,高速傳輸
支持二次開發(fā),支持OEM集成
應用
拉曼光譜測量
熒光光譜測量
水質和氣體監(jiān)測
UV-VIS弱光譜測量
規(guī)格:
探測器 | 濱松S11510系列 面陣背照式CCD |
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波長范圍 | 750-1100nm |
工作溫度 | 5℃ -35℃(推薦溫度25℃) |
像素 | 2048×64個像元,像元尺寸14µm×14µm |
狹縫 | 10μm |
光學分辨率 | ~0.35nm |
信噪比 | 800:1 |
線性度 | >99% |
雜散光 | ≤0.1% (400nm) |
A/D | 16 bit |
積分時間 | 1ms - 10s |
動態(tài)范圍 | 50000:1(典型值) |
功耗 | 500mA,5VDC |
通信接口 | USB2.0,RS232 |
外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā),硬件觸發(fā),同步觸發(fā) |
光纖接口 | SMA905 |
電源 | USB 或 5VDC |
尺寸 | 165mm x 110mm x 38mm |
儀器重量 | 0.7 Kg |
微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |