一、產(chǎn)品概述：

傅里葉紅外光譜儀（FTIR）是一種高精度的光譜分析儀器，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。它的工作原理基于材料對紅外輻射的吸收特性，通過分析分子振動和旋轉(zhuǎn)模式，提供有關(guān)樣品分子結(jié)構(gòu)和成分的重要信息。與傳統(tǒng)的紅外光譜儀相比，F(xiàn)TIR具有更高的靈敏度和分辨率，使其能夠檢測和識別復(fù)雜混合物中的微量成分。

二、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

傅里葉紅外光譜儀主要用于定性和定量分析各種化合物，包括有機和無機物質(zhì)。研究人員可以利用該儀器進(jìn)行材料表征、污染檢測、藥物分析和生物樣品研究，以了解樣品的化學(xué)結(jié)構(gòu)和組成。

·工作原理

傅里葉紅外光譜儀通過發(fā)射紅外光束到樣品上，測量樣品對不同波長的紅外光的透過率或反射率。儀器內(nèi)部使用干涉儀將光信號轉(zhuǎn)換為干涉圖譜，隨后利用傅里葉變換算法將干涉圖譜轉(zhuǎn)換為光譜數(shù)據(jù)。用戶可以分析光譜中出現(xiàn)的特征峰，識別樣品中的功能團和化合物，從而獲得詳細(xì)的化學(xué)信息。

三、主要技術(shù)指標(biāo)：

1. 應(yīng)用：用于半導(dǎo)體材料內(nèi)部含量檢測,同質(zhì)外延厚度測量和其他應(yīng)用，用于先進(jìn)的半導(dǎo)體工廠，在硅生長和器件制造域進(jìn)行材料表征

2. 光譜范圍：遠(yuǎn)紅外、中紅外、近紅外、可見光

3. 信噪比：>55000:1

4. 光譜分辨率（cm-1）：<0.09電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm