產(chǎn)品關(guān)鍵詞：載流子遷移率、電子遷移率、空穴遷移率、渡越時間、飛行時間、TOF、載流子壽命、遷移率壽命積、瞬態(tài)光電流、水平載流子、橫向TOF、橫向載流子、二維載流子成像mapping

▌ 產(chǎn)品簡介

早于2012年為行業(yè)提供搭建式系統(tǒng)，并于2019年全新推出的業(yè)內(nèi)新款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測量商業(yè)化設(shè)備。

FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態(tài)綜合光電特性測量平臺中的重要成員。該系統(tǒng)利用飛行時間法（time-of-flight，TOF）測量半導(dǎo)體材料的遷移率以及相關(guān)的光電特性，廣泛適用于各類半導(dǎo)體材料，如硅基半導(dǎo)體、第二代半導(dǎo)體、第三代寬帶隙半導(dǎo)體、有機(jī)半導(dǎo)體、鈣鈦礦半導(dǎo)體、量子點(diǎn)半導(dǎo)體、二維材料半導(dǎo)體、金屬-有機(jī)框架（MOF）、共價有機(jī)框架（COF）等。FlyTOF基于我司的MagicBox主機(jī)研制而成，配備便捷的上位機(jī)控制和數(shù)據(jù)測量軟件，可助力客戶進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的測量。FlyTOF是東譜科技源頭研發(fā)產(chǎn)品，是業(yè)內(nèi)新款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測試商業(yè)化設(shè)備。

遷移特性是半導(dǎo)體基礎(chǔ)的性質(zhì)之一，是半導(dǎo)體在電子學(xué)和光電子學(xué)等領(lǐng)域進(jìn)行應(yīng)用的基礎(chǔ)。半導(dǎo)體的遷移率定義為單位電場下載流子的平均漂移速度。TOF遷移率測試方法直接由遷移率的定義發(fā)展而來。 相比于一些間接的遷移率測試方法，如空間電荷限制電流（SCLC）法等，TOF的方法被認(rèn)為是接近“真實(shí)”遷移率的一種測量方法。通過TOF瞬態(tài)光電流信號的分析，可以得到電子遷移率、空穴遷移率等參數(shù)；用戶還可以利用這些數(shù)據(jù)，結(jié)合材料的物理模型進(jìn)行分析，得到雜質(zhì)濃度、缺陷、能帶混亂度、電荷跳躍距離等參數(shù)。

作為TOF遷移率測試方法商業(yè)化應(yīng)用的先行，東譜科技已攜手客戶廣泛探索了FlyTOF在有機(jī)半導(dǎo)體、硅基半導(dǎo)體、鈣鈦礦半導(dǎo)體、二維材料、共價有機(jī)框架等領(lǐng)域的應(yīng)用。東譜期待與您共同開拓FlyTOF更多的應(yīng)用領(lǐng)域。

▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)

□ 載流子遷移率測量值覆蓋10^-9~10^6 cm^2/(V.s)

□ 專業(yè)的信號調(diào)教，電磁兼容噪聲小

□ 行業(yè)優(yōu)異的TOF測試功能

□ 軟件自動控制，測試快速便捷

□ 快速換樣裝置，惰性氣體氛圍測試

□ 可實(shí)現(xiàn)寬溫度范圍的變溫測試（選配）

□ 可通過可視化系統(tǒng)看到光斑照射情況

□ 可靈活耦合各種類型的激發(fā)光源

▌ 產(chǎn)品功能

□ 飛行時間法瞬態(tài)光電流測量

□ 半導(dǎo)體材料電子遷移率測量

□ 半導(dǎo)體材料空穴遷移率測量

□ 載流子濃度測量

□ 載流子壽命測量

□ 可選變溫測量

□ 可選Lateral-TOF測試功能及附件

□ 可選配TOF二維掃描（mapping）功能及附件

功能說明：

標(biāo)配TOF：縱向TOF；

Mapping功能：可以對TOF的信號進(jìn)行二維平面的成像；

Lateral-TOF功能：可以以水平的方式對樣品的遷移率進(jìn)行測試。

▌ 產(chǎn)品應(yīng)用

▌ 規(guī)格型號

▌ 測試樣例